| 致谢 | 第1-4页 |
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-26页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第10-13页 |
| ·凸非球面检测技术及发展 | 第13-19页 |
| ·透射式零补偿法 | 第13-14页 |
| ·反射式零补偿法 | 第14-16页 |
| ·无像差点法 | 第16-18页 |
| ·子孔径拼接测试法 | 第18-19页 |
| ·子孔径拼接检测技术及其发展 | 第19-24页 |
| ·基于 Zernike 多项式描述波前 | 第19-21页 |
| ·基于 DPM 方法描述波前 | 第21-22页 |
| ·MAOST 拼接测试 | 第22页 |
| ·QED 子孔径拼接干涉仪 | 第22-23页 |
| ·其它拼接测试发展及国内技术发展 | 第23-24页 |
| ·论文的组织结构及主要工作 | 第24-26页 |
| 第2章 大口径凸非球面镜拼接测试原理及关键问题分析 | 第26-36页 |
| ·引言 | 第26-28页 |
| ·基于无像差点的大口径凸非球面镜拼接测试原理 | 第28-32页 |
| ·大口径凸抛物面镜的拼接测试方法 | 第28-29页 |
| ·大口径凸椭球面镜的拼接测试方法 | 第29-30页 |
| ·大口径凸双曲面镜检测原理 | 第30-32页 |
| ·凸双曲面镜测试系统组成及工作过程 | 第32-33页 |
| ·关键技术及难点分析 | 第33-35页 |
| ·本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 基于无像差点法的凸非球面镜拼接算法研究 | 第36-62页 |
| ·引言 | 第36-39页 |
| ·稀疏子孔径拼接算法 | 第39-46页 |
| ·稀疏子孔径拼接算法模型 | 第39-40页 |
| ·稀疏子孔径拼接算法精度评定 | 第40-41页 |
| ·稀疏子孔径拼接算法数值仿真验证 | 第41-42页 |
| ·稀疏子孔径拼接算法精度影响因素分析 | 第42-46页 |
| ·随机噪声的影响 | 第43-44页 |
| ·镜面高阶分量对拼接结果的影响 | 第44-45页 |
| ·稀疏子孔径分布的影响 | 第45页 |
| ·稀疏子孔径覆盖率的影响 | 第45-46页 |
| ·重叠子孔径相位拼接算法 | 第46-59页 |
| ·重叠子孔径相位拼接算法模型 | 第46-48页 |
| ·重叠子孔径拼接算法精度评定 | 第48-49页 |
| ·重叠子孔径拼接算法数值仿真验证 | 第49-51页 |
| ·重叠子孔径拼接算法精度影响因素分析 | 第51-59页 |
| ·环境随机噪声的影响 | 第51-53页 |
| ·高斯噪声的影响 | 第53-56页 |
| ·系统误差的影响 | 第56-58页 |
| ·重叠区域对准误差的影响 | 第58页 |
| ·重叠区域大小的影响 | 第58-59页 |
| ·本章小结 | 第59-62页 |
| 第4章 基于 Hindle 法的凸双曲面拼接测试实验研究及误差分析 | 第62-86页 |
| ·实验模型的规划及辅助 hindle 球参数计算 | 第62-65页 |
| ·稀疏子孔径拼接测量实验及分析 | 第65-70页 |
| ·单环带子孔径拼接测量实验及分析 | 第70-74页 |
| ·双环带子孔径拼接测量实验及分析 | 第74-77页 |
| ·实验误差分析 | 第77-84页 |
| ·实验要误差及精度分析 | 第78页 |
| ·测量精度影响分析及校正手段 | 第78-84页 |
| ·波前畸变误差 | 第79-80页 |
| ·成像畸变误差 | 第80-81页 |
| ·重叠区域对准误差 | 第81-83页 |
| ·原理性误差 | 第83-84页 |
| ·本章小结 | 第84-86页 |
| 第5章 凸双曲面镜参数测量 | 第86-94页 |
| ·引言 | 第86-87页 |
| ·测量原理 | 第87-89页 |
| ·实验及原理测量误差分析 | 第89-92页 |
| ·本章小结 | 第92-94页 |
| 第6章 绝对拼接测试研究 | 第94-104页 |
| ·引言 | 第94-95页 |
| ·绝对拼接测试算法研究 | 第95-98页 |
| ·绝对子孔径拼接测量结果 | 第98-103页 |
| ·本章小结 | 第103-104页 |
| 第7章 全文总结及展望 | 第104-109页 |
| ·全文总结 | 第104-107页 |
| ·研究展望 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-116页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第116-118页 |