| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-11页 |
| ·论文的背景及选题意义 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8-10页 |
| ·国外研究现状 | 第8-9页 |
| ·国内研究现状 | 第9-10页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第10-11页 |
| 2 风险评估简介 | 第11-19页 |
| ·风险评价概述 | 第11-12页 |
| ·功能安全分析 | 第12-15页 |
| ·风险及其相关概念 | 第12-13页 |
| ·风险评估步骤 | 第13-14页 |
| ·风险接受原则 | 第14-15页 |
| ·风险评估方法 | 第15-19页 |
| ·风险矩阵法 | 第15-16页 |
| ·定性与定量分析法 | 第16-19页 |
| 3 列控中心列控机冗余结构的可靠性分析 | 第19-32页 |
| ·CTCS-2列控系统总体技术特点 | 第19-21页 |
| ·列控中心通信接口与通道 | 第21-23页 |
| ·“故障—安全”原则 | 第23-24页 |
| ·列控中心可靠度、安全度计算结果 | 第24-32页 |
| ·Markov链简介 | 第24-25页 |
| ·2×2取2系统模型 | 第25-32页 |
| 4 列控中心初步风险分析 | 第32-45页 |
| ·失效模式识别 | 第32-33页 |
| ·原因分析及概率的计算 | 第33-41页 |
| ·失效模式原因分析 | 第33-38页 |
| ·失效模式概率的计算 | 第38-41页 |
| ·后果严重度 | 第41-42页 |
| ·故障模式风险等级确定 | 第42-45页 |
| 5 列控中心系统风险评估 | 第45-53页 |
| ·风险降低过程 | 第45-47页 |
| ·风险降低措施的选择 | 第45-47页 |
| ·剩余风险等级验证 | 第47页 |
| ·列控中心失效模式风险降低 | 第47-53页 |
| ·失效模式风险控制措施分析 | 第47-48页 |
| ·风险控制措施的不可用度分析 | 第48-50页 |
| ·列控中心剩余风险等级分析 | 第50-53页 |
| 结论 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
| 附录A 失效模式原因表 | 第57-65页 |
| 附录B CTC/TSRS接口模块故障原因表 | 第65-66页 |
| 附录C 继电器状态采集/驱动继电器接口模块故障原因表 | 第66-67页 |
| 攻读学位期间的研究成果 | 第67页 |