集成于无源RFID标签芯片的CMOS温度传感器设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·论文研究背景及意义 | 第10-16页 |
| ·RFID 研究与发展 | 第10-13页 |
| ·CMOS 温度传感器的研究现状 | 第13-14页 |
| ·无源 RFID 温度标签芯片的研究现状 | 第14-15页 |
| ·论文研究意义 | 第15-16页 |
| ·论文面临的主要问题及研究内容 | 第16-18页 |
| ·论文面临的主要问题 | 第16-17页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第17-18页 |
| ·无源 RFID 温度标签芯片架构 | 第18页 |
| ·本论文的主要内容 | 第18-20页 |
| 第二章 CMOS 工艺中的双极型晶体管 | 第20-30页 |
| ·简介 | 第20页 |
| ·双极型晶体管的基本理论 | 第20-26页 |
| ·理想模型 | 第20-23页 |
| ·低级注入效应 | 第23页 |
| ·高级注入效应 | 第23-24页 |
| ·感温信号和带隙基准信号 | 第24-26页 |
| ·CMOS 工艺中的双极型晶体管 | 第26-29页 |
| ·横向寄生晶体管 | 第26-28页 |
| ·纵向衬底寄生晶体管 | 第28页 |
| ·两种寄生晶体管的对比 | 第28-29页 |
| ·结论 | 第29-30页 |
| 第三章 失调消除技术和动态元件匹配 | 第30-38页 |
| ·简介 | 第30页 |
| ·CMOS 运放中的失调和噪声 | 第30-33页 |
| ·CMOS 运放中的噪声分析 | 第30-32页 |
| ·失调电压对运放的影响 | 第32-33页 |
| ·斩波技术 | 第33-35页 |
| ·动态元件匹配 | 第35-37页 |
| ·小结 | 第37-38页 |
| 第四章 带隙基准源的设计 | 第38-50页 |
| ·简介 | 第38页 |
| ·带隙基准源的基本原理 | 第38-41页 |
| ·与绝对温度成正比的电压ΔVBE | 第39-40页 |
| ·呈负温度系数的电压 VBE | 第40-41页 |
| ·带隙基准源设计 | 第41-49页 |
| ·电流模带隙基准的温度补偿原理 | 第42页 |
| ·带隙核心电路中的误差 | 第42-43页 |
| ·斩波运放的设计 | 第43-45页 |
| ·启动电路的设计 | 第45-47页 |
| ·带隙基准的仿真 | 第47-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第五章 温度传感器设计 | 第50-60页 |
| ·简介 | 第50页 |
| ·感温电路的设计 | 第50-54页 |
| ·PTAT 电压产生电路 | 第50-52页 |
| ·电路仿真 | 第52-54页 |
| ·偏置电流源设计 | 第54-55页 |
| ·温度传感器误差分析 | 第55-56页 |
| ·版图设计 | 第56-59页 |
| ·整体版图布局要点 | 第56-57页 |
| ·关键元件的设计要点 | 第57-59页 |
| ·小结 | 第59-60页 |
| 第六章 总结与展望 | 第60-62页 |
| ·论文工作总结 | 第60页 |
| ·今后工作展望 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
