3D过渡金属掺杂对氧化锌压敏电阻器工频耐受性能研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·选题背景及研究意义 | 第7-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第7-9页 |
| ·配方研究 | 第9页 |
| ·工艺现状 | 第9页 |
| ·课题确定 | 第9-10页 |
| ·本论文内容安排 | 第10-13页 |
| 第二章 理论部分 | 第13-19页 |
| ·ZnO压敏陶瓷的基本性质 | 第13页 |
| ·ZnO压敏电阻器的电气性能 | 第13-16页 |
| ·ZnO压敏电阻器的Ⅰ-Ⅴ特性 | 第13-14页 |
| ·ZnO压敏电阻器工作原理 | 第14-15页 |
| ·ZnO压敏电阻器的电性能参数 | 第15-16页 |
| ·元件烧结工艺 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-19页 |
| 第三章 ZnO压敏电阻器方案确定 | 第19-27页 |
| ·改善ZnO压敏电阻器电位梯度的理论基础 | 第19页 |
| ·提高电阻片电位梯度的主要途径 | 第19-20页 |
| ·配方改进 | 第19-20页 |
| ·制备工艺 | 第20页 |
| ·能量耐受密度提升途径及方法 | 第20-22页 |
| ·增大ZnO晶粒尺寸 | 第21页 |
| ·改善电阻片的均匀性 | 第21-22页 |
| ·低压ZnO压敏电阻器电气性能改进 | 第22-23页 |
| ·减小ZnO压敏电阻器陶瓷片的厚度 | 第22页 |
| ·增大ZnO平均晶粒尺寸 | 第22-23页 |
| ·实验方案设计 | 第23-25页 |
| ·方案制定 | 第23-24页 |
| ·实验方案设计 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-27页 |
| 第四章 样品制备及微观结构分析 | 第27-43页 |
| ·实验仪器及药品 | 第27页 |
| ·实验工艺及流程 | 第27-31页 |
| ·实验流程 | 第27-29页 |
| ·烧结工艺 | 第29-30页 |
| ·样品制备 | 第30-31页 |
| ·样品成分确定 | 第31-32页 |
| ·样品SEM及EDS表征分析 | 第32-38页 |
| ·EDS对样品表征分析 | 第32-34页 |
| ·样品表面形貌分析及讨论 | 第34-38页 |
| ·工艺条件对样品微观形貌的影响 | 第38-40页 |
| ·低压烧结工艺下不同掺杂形貌分析 | 第38-40页 |
| ·不同烧结工艺下样品微观分析 | 第40页 |
| ·本章小结 | 第40-43页 |
| 第五章 样品的电性能分析 | 第43-51页 |
| ·工艺可靠性讨论 | 第43页 |
| ·样品静态3参数分析讨论 | 第43-47页 |
| ·样品通流能力能量耐量测试分析 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第六章 总结及展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
