基于扫描仪控制器GL847的图像校正技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| ·课题背景和国内外现状 | 第7-8页 |
| ·课题来源和主要工作 | 第8页 |
| ·论文内容安排 | 第8-9页 |
| 第二章 大幅面扫描仪的工作原理 | 第9-19页 |
| ·大幅面扫描仪的概念 | 第9-10页 |
| ·大幅面扫描仪的分类 | 第10-12页 |
| ·按照成像方式与成像质量分类 | 第10页 |
| ·按照走纸方式分类 | 第10-11页 |
| ·按照光源照明方式分类 | 第11页 |
| ·按常用接口不同分类 | 第11-12页 |
| ·大幅面扫描仪的工作原理 | 第12-15页 |
| ·单 CCD 结构扫描仪 | 第12-14页 |
| ·多 CCD 结构扫描仪 | 第14-15页 |
| ·大幅面扫描仪的总体结构 | 第15-17页 |
| ·图像采集系统硬件选择 | 第17-18页 |
| ·扫描仪控制芯片 | 第17页 |
| ·CCD 传感器 | 第17-18页 |
| ·模拟前端 | 第18页 |
| ·图像数据存储器 | 第18页 |
| ·步进电机和驱动器 | 第18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第三章 线阵 CCD 器件介绍 | 第19-33页 |
| ·CCD 的基本工作原理 | 第20-24页 |
| ·电荷的注入 | 第20页 |
| ·电荷的存储 | 第20-23页 |
| ·电荷耦合 | 第23-24页 |
| ·电荷的检测 | 第24页 |
| ·CCD 应用系统中光源和照度的匹配 | 第24-26页 |
| ·光源的选择 | 第24-25页 |
| ·照度匹配 | 第25-26页 |
| ·线阵 CCD | 第26-28页 |
| ·线阵 CCD 和面阵 CCD 的比较 | 第26-27页 |
| ·线阵 CCD 图像的特点 | 第27-28页 |
| ·典型线阵 CCD | 第28-31页 |
| ·TCD1206UD 的基本结构 | 第28-29页 |
| ·TCD1206UD 的工作原理 | 第29-30页 |
| ·光谱响应 | 第30页 |
| ·积分时间与暗电压的变化关系 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 第四章 校正方法介绍 | 第33-39页 |
| ·CCD 像素响应不均匀的原因 | 第33页 |
| ·基于最小二乘法的校正算法 | 第33-35页 |
| ·基于最小二乘的参数估计 | 第34-35页 |
| ·CCD 像素校正参数的确定 | 第35页 |
| ·自适应校正方法 | 第35-38页 |
| ·CCD 响应的不均匀性 | 第35-36页 |
| ·光电响应不均匀性的校正 | 第36-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第五章 图像数据的采集与校正 | 第39-59页 |
| ·图像采集过程 | 第39-41页 |
| ·WM8196 功能简述 | 第41-43页 |
| ·WM8196 信号处理过程 | 第41-42页 |
| ·WM8196 信号处理中的计算关系 | 第42-43页 |
| ·黑白场校正 | 第43-54页 |
| ·静态校正 | 第43-44页 |
| ·像素级校正 | 第44-45页 |
| ·获取黑白场校正数据 | 第45-47页 |
| ·校正数据的写入 | 第47页 |
| ·实验环境 | 第47-49页 |
| ·实验方法及结果分析 | 第49-54页 |
| ·影响校正的因素 | 第54-55页 |
| ·校正条不清洁 | 第54-55页 |
| ·曝光时间和积分时间对校正的影响 | 第55页 |
| ·Gamma 校正 | 第55-57页 |
| ·Gamma 校正的方法 | 第55-57页 |
| ·Gamma 数据写入 | 第57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第六章 总结与展望 | 第59-61页 |
| ·论文总结 | 第59页 |
| ·尚待完善的工作 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 附录 A | 第65-68页 |
