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PXI高性能数字I/O模块研制

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
第1章 绪论第9-14页
   ·数据域测试第9-10页
     ·引言第9-10页
     ·数据域测试技术简介第10页
   ·自动测试系统、虚拟仪器和PXI总线第10-12页
     ·自动测试系统简介第10-11页
     ·虚拟仪器简介第11-12页
     ·PXI总线简介第12页
   ·课题的目的意义和国内外研究现状第12-13页
   ·本文结构和主要研究内容第13-14页
第2章 总体方案设计第14-24页
   ·高性能数字I/O模块技术指标第14-15页
   ·模块的工作原理第15-16页
   ·硬件设计方案第16-21页
     ·硬件系统总体框图第16-18页
     ·PXI接口方案选择第18-19页
     ·控制逻辑器件选择第19-20页
     ·存储器件选择第20-21页
     ·前端驱动器件选择第21页
   ·软件设计方案第21-23页
   ·本章小结第23-24页
第3章 硬件设计第24-38页
   ·功能电路设计第24-27页
     ·SRAM设计第24-26页
     ·前端驱动电路设计第26-27页
   ·FPGA内部逻辑设计第27-37页
     ·FPGA总体设计与寄存器定义第27-29页
     ·总线接口模块第29-31页
     ·SRAM 控制模块第31-35页
     ·连续地址产生模块第35-36页
     ·可变时钟产生模块第36-37页
   ·本章小结第37-38页
第4章 软件设计第38-53页
   ·软件设计规划第38-43页
     ·仪器驱动程序开发概述第38-41页
     ·驱动程序的功能需求第41-43页
   ·主界面软面板设计第43-46页
     ·VPP 主界面软面板设计要求和原则第43-45页
     ·通过主界面对仪器操作第45-46页
   ·副界面软面板设计第46-52页
     ·激励数据制作面板设计第46-49页
     ·响应数据读取面板设计第49-51页
     ·逻辑波形分析界面设计第51-52页
   ·本章小结第52-53页
第5章 调试、应用和噪声干扰分析第53-60页
   ·调试中遇到的问题和解决办法以及实际测试第53-56页
     ·遇到的问题和解决办法第53-54页
     ·实际测试第54-56页
   ·噪声干扰分析第56-59页
   ·本章小结第59-60页
结论第60-61页
参考文献第61-65页
致谢第65页

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