摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第一章 绪论 | 第8-14页 |
·研究背景 | 第8-10页 |
·研究现状 | 第10-11页 |
·国外研究现状 | 第10-11页 |
·国内研究现状 | 第11页 |
·论文的主要研究内容 | 第11-14页 |
第二章 激光光束质量评价理论 | 第14-28页 |
·激光产生原理 | 第14-16页 |
·能级概念 | 第14页 |
·激光产生机理 | 第14-16页 |
·激光束参数的描述 | 第16-22页 |
·光束强度(Beam intensity) | 第16-17页 |
·光束模式(Laser mode) | 第17-18页 |
·光束束宽(Beam width) | 第18-20页 |
·远场发散角(Beam divergence angle) | 第20-21页 |
·瑞利长度(Rayleigh length) | 第21-22页 |
·激光光束质量的评价参数及其适用性 | 第22-26页 |
·本章小结 | 第26-28页 |
第三章 光束质量测量方案 | 第28-48页 |
·用M2 因子评价激光光束质量 | 第28-37页 |
·M2 因子是相对理想的评价参数 | 第28-30页 |
·M2 因子概念与激光基本性质的联系 | 第30-31页 |
·M2 因子的局限性 | 第31-32页 |
·选择M2 因子评价的原因 | 第32页 |
·矩量分析理论与M2 因子 | 第32-35页 |
·高斯光束的光束参数和M2 因子 | 第35-37页 |
·M2 因子测量方法 | 第37-40页 |
·激光光束束宽测量方法 | 第40-42页 |
·CCD 法 | 第40页 |
·可变光阑法 | 第40-41页 |
·移动刀口法 | 第41页 |
·狭缝扫描法 | 第41-42页 |
·功率衰减法 | 第42页 |
·系统设计方案 | 第42-45页 |
·系统原理图及硬件选择 | 第43页 |
·CMOS 相机 | 第43-44页 |
·衰减片 | 第44-45页 |
·测量结果及误差分析 | 第45-46页 |
·测量结果 | 第45页 |
·测量结果分析 | 第45-46页 |
·本章小结 | 第46-48页 |
第四章 光束分析算法及其实现 | 第48-56页 |
·软件设计 | 第48-49页 |
·软件的工作流程 | 第48-49页 |
·软件的主要功能 | 第49页 |
·激光光斑的伪彩色处理 | 第49-52页 |
·伪彩色实现 | 第49-51页 |
·伪彩色处理结果 | 第51-52页 |
·光束宽度的测量及算法实现 | 第52-53页 |
·结果窗口 | 第53-55页 |
·光强分布窗口 | 第53页 |
·结果窗口 | 第53-54页 |
·程序界面 | 第54-55页 |
·本章小结 | 第55-56页 |
第五章 结论与展望 | 第56-58页 |
·本文工作总结 | 第56页 |
·展望 | 第56-58页 |
致谢 | 第58-60页 |
参考文献 | 第60-63页 |