基于粒子群算法的数字集成电路测试生成研究
| 第1章 绪论 | 第1-19页 |
| ·研究目的及意义 | 第9-10页 |
| ·国内外相关研究情况 | 第10-16页 |
| ·测试生成的基本原理 | 第16-17页 |
| ·研究内容及结构安排 | 第17-19页 |
| 第2章 基于模拟的自动测试生成 | 第19-29页 |
| ·测试生成的相关概念 | 第19-21页 |
| ·故障和故障模型 | 第21-23页 |
| ·测试生成算法分类 | 第23-24页 |
| ·算法主要评价指标 | 第24-25页 |
| ·基于模拟的自动测试生成 | 第25-29页 |
| ·故障模型的等价归并 | 第26-27页 |
| ·故障模拟器 | 第27页 |
| ·并行故障模拟 | 第27-29页 |
| 第3章 基于粒子群算法的组合电路的测试生成 | 第29-46页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·粒子群算法的基本原理 | 第29-32页 |
| ·基本粒子群算法 | 第29-31页 |
| ·离散变量的粒子群算法 | 第31-32页 |
| ·基本粒子群算法用于组合电路的测试生成 | 第32-38页 |
| ·改进的粒子群算法 | 第38-40页 |
| ·带有惯性权重的粒子群算法 | 第39-40页 |
| ·带有选择算子的粒子群算法 | 第40页 |
| ·基于选择算子和惯性权重改进的粒子群算法 | 第40页 |
| ·基于改进的粒子群算法的组合电路的测试生成 | 第40-44页 |
| ·算法描述 | 第42页 |
| ·实验结果 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-46页 |
| 第4章 基于粒子群算法的时序电路的初始化 | 第46-53页 |
| ·时序电路的初态 | 第46-47页 |
| ·粒子群算法初始化时序电路 | 第47-52页 |
| ·粒子群算法初始化时序电路的具体步骤 | 第48-49页 |
| ·改进粒子群算法初始化时序电路的具体步骤 | 第49-50页 |
| ·实验结果 | 第50-52页 |
| ·本章小节 | 第52-53页 |
| 第5章 基于粒子群算法的时序电路的测试生成 | 第53-63页 |
| ·引言 | 第53-55页 |
| ·基于粒子群算法的时序电路的测试生成算法 | 第55-60页 |
| ·具体关键技术 | 第55-59页 |
| ·算法描述 | 第59-60页 |
| ·实验结果 | 第60页 |
| ·基于改进粒子群算法的时序电路的测试生成算法 | 第60-62页 |
| ·算法描述 | 第60-61页 |
| ·实验结果 | 第61-62页 |
| ·本章小节 | 第62-63页 |
| 第6章 测试集的优化 | 第63-66页 |
| ·引言 | 第63-64页 |
| ·基于粒子群算法的电路的测试集优化 | 第64-65页 |
| ·基于粒子群算法的测试集优化的基本步骤 | 第65页 |
| ·实验结果 | 第65页 |
| ·本章小节 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
