| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-14页 |
| ·TPM 系统对随机数发生器的需求 | 第12-13页 |
| ·本文所做的工作 | 第13页 |
| ·本文的课题来源及结构安排 | 第13-14页 |
| 第二章 随机数的基本概念及其发生器的原理 | 第14-42页 |
| ·随机数的基本概念 | 第14-17页 |
| ·随机性 | 第14页 |
| ·不可预测性 | 第14-15页 |
| ·数学方法定义随机数概念 | 第15页 |
| ·随机序列 | 第15-16页 |
| ·衡量随机序列质量的主要指标 | 第16页 |
| ·随机数发生器 | 第16-17页 |
| ·噪声源 | 第17-22页 |
| ·电路中存在的噪声 | 第17-18页 |
| ·相位噪声 | 第18-19页 |
| ·压控振荡器的相位噪声 | 第19-22页 |
| ·伪随机数发生器的原理 | 第22-37页 |
| ·伪随机数发生器的特性及其应用价值 | 第22-23页 |
| ·产生伪随机数的常用方法简介 | 第23-37页 |
| ·线性同余系列 | 第23-25页 |
| ·一般非线性同余发生器 | 第25页 |
| ·逆同余发生器 | 第25-27页 |
| ·经典Fibonacci 与延迟Fibonacci 序列 | 第27页 |
| ·移位寄存器序列发生器 | 第27-29页 |
| ·进位加和借位减发生器 | 第29-32页 |
| ·复合素数和混沌映射产生随机数 | 第32-34页 |
| ·组合发生器 | 第34-37页 |
| ·真随机数发生器的原理 | 第37-40页 |
| ·真随机数发生器的概念和属性 | 第37页 |
| ·真随机数发生器的常用方法 | 第37-40页 |
| ·直接放大法 | 第37-38页 |
| ·振荡器采样 | 第38-39页 |
| ·基于混沌的离散时间 | 第39-40页 |
| ·采用锁相环方法的依据 | 第40-42页 |
| 第三章 随机序列的测试标准 | 第42-49页 |
| ·随机序列的性能指标 | 第42页 |
| ·随机序列的测试标准 | 第42-48页 |
| ·测试方法的理论基础 | 第42-45页 |
| ·测试基准 | 第45-46页 |
| ·美国联邦信息处理标准指定的测试方案 | 第46-48页 |
| ·采用的测试方案 | 第48-49页 |
| 第四章 真随机数发生器的设计 | 第49-72页 |
| ·系统设计 | 第49-51页 |
| ·设计构思 | 第49-50页 |
| ·系统端口说明 | 第50-51页 |
| ·TRNG 系统的内部功能划分 | 第51页 |
| ·锁相环电路设计 | 第51-53页 |
| ·系统设计 | 第51-52页 |
| ·工作原理 | 第52-53页 |
| ·随机种子采集电路设计 | 第53-55页 |
| ·数据处理 | 第55-58页 |
| ·整体方案 | 第55页 |
| ·偏置纠正 | 第55-57页 |
| ·数据杂化 | 第57-58页 |
| ·模块划分与硬件实现 | 第58-64页 |
| ·模块划分 | 第58页 |
| ·硬件实现 | 第58-64页 |
| ·PLL 模块 | 第58-59页 |
| ·rng 模块 | 第59-64页 |
| ·生成随机数序列的测试 | 第64-68页 |
| ·部分图形以及相关信息 | 第68-72页 |
| ·数字电路部分仿真结果 | 第68页 |
| ·数字电路部分综合结果 | 第68-69页 |
| ·混合仿真部分结果 | 第69页 |
| ·数字电路部分综合信息 | 第69-71页 |
| ·RNG 电路版图 | 第71-72页 |
| 第五章 结束语 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第78页 |