超低功耗流水线式ADC的研究与设计
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 1 引言 | 第11-15页 |
| ·研究背景及意义 | 第11-12页 |
| ·研究现状及趋势 | 第12-13页 |
| ·研究内容和论文的组织结构 | 第13-15页 |
| 2 流水线式ADC基础理论 | 第15-27页 |
| ·ADC的基本工作原理 | 第15-16页 |
| ·ADC的主要性能参数 | 第16-21页 |
| ·ADC的静态性能参数 | 第16-19页 |
| ·ADC的动态性能参数 | 第19-21页 |
| ·流水线式ADC的结构 | 第21-23页 |
| ·1.5位/级流水线式ADC的结构 | 第23页 |
| ·非理想因素对流水线式ADC的影响 | 第23-26页 |
| ·增益误差 | 第24-25页 |
| ·噪声误差 | 第25-26页 |
| ·电容失配 | 第26页 |
| ·电荷注入与时钟馈通 | 第26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 3 CMOS集成电路低电压低功耗技术 | 第27-33页 |
| ·低电压低功耗模拟集成电路设计技术 | 第27-29页 |
| ·衬底驱动电路 | 第27-28页 |
| ·浮栅MOS晶体管技术 | 第28页 |
| ·亚阈值特性设计技术 | 第28-29页 |
| ·MOSFET的亚阈区特性 | 第29-32页 |
| ·亚阈区电流 | 第30-31页 |
| ·亚阈区小信号模型 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 4 亚阈流水线式ADC设计与仿真 | 第33-79页 |
| ·工艺库 | 第33-41页 |
| ·不同工艺库参数比较 | 第33-38页 |
| ·不同工艺库MOS管性能比较 | 第38-41页 |
| ·单元电路的设计与仿真 | 第41-50页 |
| ·亚阈运算放大器 | 第41-45页 |
| ·动态锁存比较器 | 第45-49页 |
| ·CMOS开关 | 第49-50页 |
| ·功能模块的设计与仿真 | 第50-67页 |
| ·亚阈采样保持电路 | 第50-53页 |
| ·子ADC电路 | 第53-55页 |
| ·亚阈MDAC电路 | 第55-61页 |
| ·时钟信号产生电路 | 第61-62页 |
| ·延迟对准电路 | 第62-63页 |
| ·冗余位校正电路 | 第63-67页 |
| ·亚阈流水线ADC系统整体仿真与分析 | 第67-78页 |
| ·瞬态仿真分析 | 第67-70页 |
| ·静态性能分析 | 第70-72页 |
| ·动态性能分析 | 第72-75页 |
| ·Corner分析 | 第75-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 5 亚阈流水线式ADC版图设计与优化 | 第79-107页 |
| ·版图设计基础 | 第79-86页 |
| ·概述 | 第79-80页 |
| ·寄生效应 | 第80-82页 |
| ·器件的匹配性设计 | 第82-83页 |
| ·数模混合电路版图设计 | 第83-85页 |
| ·版图的验证 | 第85-86页 |
| ·ADC单元及模块电路的版图实现及后仿真 | 第86-97页 |
| ·亚阈运算放大器版图 | 第86-89页 |
| ·动态锁存比较器版图 | 第89-91页 |
| ·子ADC电路版图 | 第91-92页 |
| ·亚阈MDAC电路版图 | 第92-93页 |
| ·时钟信号产生电路版图 | 第93-95页 |
| ·亚阈流水线式ADC子级电路版图 | 第95-96页 |
| ·数字校正电路版图 | 第96-97页 |
| ·ADC总体电路的版图规划及仿真 | 第97-105页 |
| ·总体电路版图 | 第97-99页 |
| ·瞬态仿真分析 | 第99-101页 |
| ·动态性能分析 | 第101-105页 |
| ·Corner分析 | 第105页 |
| ·本章小结 | 第105-107页 |
| 6 总结 | 第107-109页 |
| 参考文献 | 第109-111页 |
| 作者简历 | 第111-115页 |
| 学位论文数据集 | 第115页 |
