高性能低功耗Sigma-Delta ADC测试研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 1 引言 | 第11-17页 |
| ·集成电路测试的意义 | 第11-12页 |
| ·集成电路测试的内容 | 第12-13页 |
| ·主要的测试技术 | 第13-15页 |
| ·集成电路测试的前景 | 第15-16页 |
| ·论文的主要内容 | 第16-17页 |
| 2 ∑-ΔADC原理和建模 | 第17-37页 |
| ·∑-Δ调制器工作原理 | 第17-21页 |
| ·过采样 | 第18-19页 |
| ·噪声整形 | 第19-21页 |
| ·∑-Δ调制器结构 | 第21-28页 |
| ·∑-Δ调制器构成 | 第22-23页 |
| ·主要结构 | 第23-28页 |
| ·∑-Δ调制器的系统建模和仿真 | 第28-36页 |
| ·调制器参数的确定 | 第28-29页 |
| ·调制器结构的选择 | 第29-30页 |
| ·调制器的模型和仿真 | 第30-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 3 DDC112U测试板原理设计 | 第37-57页 |
| ·基本测试方法 | 第37-44页 |
| ·静态参数及测试方法 | 第37-40页 |
| ·动态参数及测试方法 | 第40-44页 |
| ·ADC测试板的组成 | 第44-49页 |
| ·测试板的输入电路设计 | 第49-52页 |
| ·测试板的参考电压和电源电压 | 第52-54页 |
| ·测试板的参考电压产生电路 | 第52-53页 |
| ·电源电压的产生 | 第53-54页 |
| ·测试板的时钟信号产生电路 | 第54-55页 |
| ·测试板的结构原理图 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 4 DDC112U测试板布板设计 | 第57-65页 |
| ·测试板设计流程 | 第57页 |
| ·PCB板设计概述 | 第57-59页 |
| ·电源完整性 | 第57-58页 |
| ·电磁兼容 | 第58页 |
| ·信号完整性 | 第58-59页 |
| ·PCB设计要点 | 第59-61页 |
| ·去耦设计 | 第59-60页 |
| ·PCB的覆铜 | 第60-61页 |
| ·测试板的设计 | 第61-63页 |
| ·测试板材料清单 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 5 测试过程和结果 | 第65-77页 |
| ·测试方案 | 第65-66页 |
| ·测试系统及要求 | 第66-67页 |
| ·测试系统的组成 | 第66页 |
| ·对电源的要求 | 第66-67页 |
| ·对时钟的要求 | 第67页 |
| ·对输入电路的要求 | 第67页 |
| ·测试所需仪器设备及其具体性能 | 第67-68页 |
| ·供电电源 | 第67页 |
| ·信号发生器 | 第67-68页 |
| ·混合信号示波器 | 第68页 |
| ·数字万用表 | 第68页 |
| ·测试结果 | 第68-75页 |
| ·测试系统和数据产生 | 第68-70页 |
| ·数据的获取和处理结果 | 第70-75页 |
| ·本章小结 | 第75-77页 |
| 6 结论 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 作者简历 | 第81-85页 |
| 学位论文数据集 | 第85页 |
