用超高频法研究GIS中局部放电的特征
| 第一章 绪论 | 第1-20页 |
| 1-1 概述 | 第7-9页 |
| 1-2 GIS内缺陷类型分析 | 第9-12页 |
| 1-3 国内外研究GIS局部放电检测的现状 | 第12-15页 |
| 1．3．1 振动法 | 第12-13页 |
| 1．3．2 电气法 | 第13-15页 |
| 1-4 GIS局部放电信号超高频特征分析 | 第15-17页 |
| 1-5 用超高频法研究GIS内局部放电的类型 | 第17-18页 |
| 1-6 用超高频法研究GIS内局部放电存在的问题 | 第18-19页 |
| 1-7 论文的研究内容 | 第19-20页 |
| 第二章 超高频传感器的研制 | 第20-29页 |
| 2-1 宽频带天线 | 第20-23页 |
| 2-2 超高频放大器 | 第23-24页 |
| 2-3 宽频带检波器 | 第24-27页 |
| 2-4 超高频传感器抗干扰能力测试 | 第27-29页 |
| 第三章 试验装置和测量系统 | 第29-39页 |
| 3-1 GIS试验模型 | 第30-31页 |
| 3-2 SF6充气系统 | 第31-32页 |
| 3-3 高压试验电路 | 第32-33页 |
| 3-4 测量系统 | 第33-39页 |
| 3．4．1 测量系统框图 | 第33-34页 |
| 3．4．2 常规局部放电测量系统 | 第34-35页 |
| 3．4．3 频谱测量系统 | 第35页 |
| 3．4．4 超高频法测量系统 | 第35-38页 |
| 3．4．4．1 超高频传感器 | 第36-37页 |
| 3．4．4．2 数字示波器 | 第37-38页 |
| 3．4．5 数据记录与显示 | 第38-39页 |
| 第四章 GIS局部放电故障类型特征研究 | 第39-75页 |
| 4-1 高压导体上的金属尖刺 | 第40-44页 |
| 4-2 悬浮电位 | 第44-56页 |
| 4．2．1 高压导体接触不良 | 第45-53页 |
| 4．2．2 接地体之间的接触不良 | 第53-56页 |
| 4-3 盆式绝缘子上金属颗粒 | 第56-71页 |
| 4．3．1 盆式绝缘子上自由金属颗粒群 | 第57-61页 |
| 4．3．2 盆式绝缘子上间隙固定的金属颗粒对 | 第61-68页 |
| 4．3．3 盆式绝缘子上单个金属颗粒 | 第68-71页 |
| 4-4 筒体表面的自由金属颗粒 | 第71-72页 |
| 4-5 GIS内不同缺陷类型局部放电的特征 | 第72-75页 |
| 第五章 结论 | 第75-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
