激光干涉测量技术及在电光陶瓷检测中的应用
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-15页 |
| ·干涉测量技术 | 第7页 |
| ·激光散斑干涉测量法 | 第7-10页 |
| ·散斑的概念 | 第7-8页 |
| ·散班计量学的发展 | 第8-9页 |
| ·光纤电子散斑测量技术 | 第9-10页 |
| ·数字全息术概述 | 第10-13页 |
| ·数字全息干涉术 | 第11-12页 |
| ·光纤全息术 | 第12页 |
| ·数字全息术研究现状 | 第12-13页 |
| ·电光陶瓷检测 | 第13页 |
| ·论文研究的内容 | 第13-15页 |
| 第二章 电子散斑干涉测量(ESPI) | 第15-24页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·电子散斑干涉基本原理 | 第15-16页 |
| ·空间光路电子散斑系统 | 第16-20页 |
| ·光纤光路电子散斑系统 | 第20-23页 |
| ·面内位移系统 | 第20-21页 |
| ·离面位移系统 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 散斑图像后处理 | 第24-44页 |
| ·引言 | 第24页 |
| ·图像预处理 | 第24-28页 |
| ·噪声来源及分类 | 第24-25页 |
| ·去噪处理的方法 | 第25-27页 |
| ·离散余弦变换(DCT)滤波方法 | 第27-28页 |
| ·图像细化 | 第28-35页 |
| ·常用细化方法 | 第28-30页 |
| ·图像细化算法的改进 | 第30-35页 |
| ·相位提取及恢复原理 | 第35-37页 |
| ·图像处理软件设计介绍 | 第37-43页 |
| ·图像处理软件开发平台 | 第37-38页 |
| ·软件的主要功能介绍 | 第38-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 数字全息实验系统 | 第44-50页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·数字全息系统建立 | 第44-48页 |
| ·实验系统设计 | 第44-45页 |
| ·系统主要器件选择 | 第45-48页 |
| ·数字全息记录 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 数字全息图重现理论 | 第50-71页 |
| ·引言 | 第50页 |
| ·波前记录与再现 | 第50-52页 |
| ·用干涉方法记录物光光波波前 | 第50-51页 |
| ·衍射效应再现物波波前 | 第51-52页 |
| ·菲涅耳衍射理论 | 第52-53页 |
| ·数字全息图数值重建 | 第53-55页 |
| ·包裹与解包裹 | 第55-56页 |
| ·解包裹算法的基本类型 | 第56-59页 |
| ·传统的解包裹算法 | 第56-57页 |
| ·改进的解包裹算法 | 第57-59页 |
| ·基于泊松方程的相位展开方法 | 第59-63页 |
| ·实验结果及分析 | 第63-70页 |
| ·实验样本-电光陶瓷PLZT结构及性质 | 第63-67页 |
| ·实验结果及讨论 | 第67-70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 总结与展望 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-80页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第80页 |
