| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-17页 |
| ·研究背景及意义 | 第7-11页 |
| ·相控阵天线发展现状 | 第7-9页 |
| ·平板裂缝阵天线发展现状 | 第9-11页 |
| ·阵列天线机电耦合研究意义 | 第11-14页 |
| ·相控阵天线机电耦合研究意义 | 第12页 |
| ·平板裂缝阵天线机电耦合研究意义 | 第12页 |
| ·机电耦合问题的求解方法 | 第12-14页 |
| ·本文的主要工作 | 第14-17页 |
| 第二章 阵列天线的基本理论 | 第17-23页 |
| ·引言 | 第17页 |
| ·方向图乘积定理 | 第17-19页 |
| ·几种典型的阵列天线 | 第19-23页 |
| ·二元阵 | 第19页 |
| ·直线阵 | 第19-20页 |
| ·平面阵 | 第20-23页 |
| 第三章 圆形相控阵天线的结构－电性能影响分析 | 第23-45页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·均匀单圈圆形相控阵天线分析 | 第23-31页 |
| ·均匀单圈圆形阵列天线建模 | 第23-24页 |
| ·均匀单圈圆形阵列天线方向图特性研究 | 第24-27页 |
| ·结构误差对均匀单圈圆形阵列天线电性能影响的仿真分析 | 第27-31页 |
| ·均匀多圈圆形相控阵天线分析 | 第31-37页 |
| ·均匀多圈圆形阵列天线建模 | 第31-32页 |
| ·均匀多圈圆形阵列天线方向图特性研究 | 第32-34页 |
| ·结构误差对均匀多圈圆形阵列天线电性能影响的仿真分析 | 第34-37页 |
| ·互耦对相控阵天线的影响分析 | 第37-43页 |
| ·阵列天线互耦概述 | 第37-38页 |
| ·阵列天线互耦分析模型的建立 | 第38-39页 |
| ·阵列天线互耦仿真分析 | 第39-43页 |
| ·小结 | 第43-45页 |
| 第四章 平板裂缝阵天线的结构－电性能影响分析 | 第45-63页 |
| ·引言 | 第45页 |
| ·波导缝隙的基本理论 | 第45-49页 |
| ·波导缝隙的等效电路及导纳特性 | 第45-46页 |
| ·波导宽边纵缝的分析 | 第46-48页 |
| ·波导宽边中心倾斜缝的分析 | 第48-49页 |
| ·裂缝阵天线的设计及分析 | 第49-50页 |
| ·平板裂缝阵天线的结构－电性能影响仿真分析 | 第50-61页 |
| ·辐射缝的误差分析 | 第51-54页 |
| ·耦合缝的误差分析 | 第54-57页 |
| ·馈电缝的误差分析 | 第57-60页 |
| ·缝隙圆角化的误差分析 | 第60-61页 |
| ·小结 | 第61-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 在读期间的研究成果 | 第70-71页 |