| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 第一章 引言 | 第5-6页 |
| ·选题的依据与意义 | 第5页 |
| ·论文设计的目标 | 第5页 |
| ·论文的章节构成 | 第5-6页 |
| 第二章 LMX2433双通道高频锁相环路的性能指标及应用 | 第6-11页 |
| ·数字相环路的原理和构造 | 第6-8页 |
| ·LMX2433双通道高频锁相环路的特点 | 第8-9页 |
| ·LMX2433的关键技术参数 | 第9-10页 |
| ·本章小结 | 第10-11页 |
| 第三章 测试系统LTX Fusion概述 | 第11-19页 |
| ·LTX Fusion测试系统的结构 | 第11-15页 |
| ·主要测试模块及测试程序 | 第15-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第四章 LMX2433载板设计 | 第19-22页 |
| ·LMX2433载板原理图 | 第19-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第五章 直流测试方法的研究 | 第22-33页 |
| ·测试程序的初始化 | 第22-23页 |
| ·信号管脚的OPEN/SHOT测试 | 第23-26页 |
| ·FinRF~*偏压的测试 | 第26-28页 |
| ·IDD和漏电流的测试 | 第28-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第六章 功能测试方法的研究 | 第33-44页 |
| ·功能测试 | 第33-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第七章 LMX2433测试程序中特殊的测试项目 | 第44-53页 |
| ·锁相环电荷泵(chanrge pump)测试 | 第44-46页 |
| ·锁相环毛刺(spur)测试 | 第46-48页 |
| ·锁相环灵敏度(sensitivity)测试 | 第48-50页 |
| ·锁相环相噪声(phase noise)测试 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第八章 测试结果的分析和讨论 | 第53-56页 |
| ·测试结果的分析 | 第53-54页 |
| ·测试生产中应该注意的问题 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第九章 总结与展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-58页 |
| 后记 | 第58-59页 |