| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 引言 | 第5-6页 |
| 第一章 中央处理器的老化原理 | 第6-10页 |
| ·中央处理器的可靠性 | 第6页 |
| ·中央处理器的早期失效 | 第6-7页 |
| ·中央处理器的老化原理 | 第7-8页 |
| ·中央处理器的老化工艺 | 第8-10页 |
| 第二章 中央处理器芯片老化测试机 | 第10-15页 |
| ·芯片老化技术回顾 | 第10页 |
| ·中央处理器芯片老化测试机 | 第10-13页 |
| ·中央处理器老化测试机的革新 | 第13-15页 |
| 第三章 直流转换器结构及原理 | 第15-21页 |
| ·直流转换器结构 | 第15-16页 |
| ·直流转换器原理 | 第16-21页 |
| ·直流转换器普通降压型分析 | 第16-19页 |
| ·Astec公司AA80M-3002-015L型直流转换器特点分析 | 第19-21页 |
| 第四章 直流转换器失效现象及其分析 | 第21-31页 |
| ·直流转换器失效现象 | 第21-22页 |
| ·直流转换器失效分析 | 第22-31页 |
| ·直流转换器失效分析 | 第22-28页 |
| ·实验二 对未改进直流转换器工作温度变化进行记录分析 | 第28-31页 |
| 第五章 直流转换器失效的解决方案和结果 | 第31-40页 |
| ·方案一:减少直流转换器与测试产品间的电阻以降低直流转换器上温度 | 第31-34页 |
| ·方案二:改进直流转换器内场效应管管脚受应力方式 | 第34-35页 |
| ·方案三:改变直流转换器上冷却循环方式 | 第35-38页 |
| ·改进结果追踪 | 第38-40页 |
| 第六章 结论 | 第40-41页 |
| ·论文工作总结 | 第40页 |
| ·未来工作方向展望 | 第40-41页 |
| 参考文献 | 第41-42页 |
| 致谢 | 第42-43页 |
