摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-10页 |
第一章 绪论 | 第10-21页 |
第一节 介质光学常数与光谱的关系 | 第10-13页 |
§1.1.1 均匀介质光学常数与反射光谱的关系 | 第10-11页 |
§1.1.2 非均匀介质光学常数与反射光谱的正问题与反问题 | 第11-13页 |
第二节 本论文研究的目的和意义 | 第13-17页 |
第三节 国内外研究的历史与现状 | 第17-19页 |
§1.3.1 FT IR在石油勘探中应用研究的历史与现状 | 第17-18页 |
§1.3.2 微区光谱及显微成像光谱在石油勘探中应用研究的历史与现状 | 第18-19页 |
第四节 本论文研究的内容 | 第19-21页 |
第二章 漫反射光谱的理论研究 | 第21-38页 |
第一节 引言 | 第21页 |
第二节 漫反射光谱的原理及散射模型的研究 | 第21-33页 |
§2.2.1 漫反射光谱技术的基本原理 | 第21-24页 |
§2.2.2 二流理论模型[Kubelka-Munk(KM)Theory] | 第24-27页 |
§2.2.3 修正的二流理论模型[Modified Kubelka-Munk(MKM)Theory] | 第27-33页 |
第三节 漫反射光谱定量分析的基础及参数选择 | 第33-37页 |
§2.3.1 KM函数表示的漫反射光谱 | 第33-34页 |
§2.3.2 漫反射吸光度表示的漫反射光谱 | 第34页 |
§2.3.3 多组分样品的漫反射光谱分析 | 第34-37页 |
第四节 本章小结 | 第37-38页 |
第三章 烃源岩粉末红外漫反射光谱的信息提取及定性定量分析 | 第38-61页 |
第一节 引言 | 第38-39页 |
第二节 红外光谱预处理及定量分析方法 | 第39-51页 |
§3.2.1 一元分析法对生烃潜量的定量分析及其局限性 | 第40-41页 |
§3.2.2 化学计量学在红外光谱预处理中的应用 | 第41-46页 |
§3.2.3 化学计量学在红外漫反射光谱定量分析模型建立中的应用 | 第46-51页 |
第三节 烃源岩红外漫反射光谱定量分析 | 第51-60页 |
§3.3.1 烃源岩红外漫反射光谱的采集及谱图分析 | 第51-53页 |
§3.3.2 散射对漫反射光谱的影响以及散射信息的提取 | 第53-56页 |
§3.3.3 烃源岩漫反射光谱的预处理及定量分析模型的建立 | 第56-60页 |
第四节 本章小结 | 第60-61页 |
第四章 显微成像光谱技术的基本原理 | 第61-75页 |
第一节 成像光谱技术的发展与应用 | 第61-63页 |
第二节 成像光谱的原理 | 第63-66页 |
§4.2.1 成像光谱的成像方式 | 第63-64页 |
§4.2.2 成像光谱的分光方式 | 第64-66页 |
第三节 成像光谱仪和显微成像光谱仪 | 第66-70页 |
§4.3.1 色散型成像光谱仪 | 第66-68页 |
§4.3.2 干涉型成像光谱仪 | 第68页 |
§4.3.3 显微成像光谱仪 | 第68-70页 |
第四节 成像光谱数据的分析技术 | 第70-74页 |
§4.4.1 成像光谱预处理、特征选取 | 第70-71页 |
§4.4.2 图像融合技术在成像光谱数据处理中的应用 | 第71-74页 |
第五节 本章小结 | 第74-75页 |
第五章 含油岩石薄片显微成像光谱的研究 | 第75-87页 |
第一节 引言 | 第75-76页 |
第二节 岩石薄片制备及成像光谱数据采集 | 第76-80页 |
§5.2.1 岩石薄片的制备方法 | 第76-77页 |
§5.2.2 岩石薄片的显微红外成像光谱数据采集方法 | 第77-80页 |
第三节 岩石薄片显微红外成像光谱数据的分析及图像处理 | 第80-85页 |
§5.3.1 间接成像(Mapping)法实验结果讨论 | 第80-82页 |
§5.3.2 直接成像(Imaging)法实验结果讨论 | 第82-84页 |
§5.3.3 融合技术在显微成像光谱中的应用 | 第84-85页 |
第四节 本章小结 | 第85-87页 |
第六章 总结与展望 | 第87-91页 |
第一节 总结 | 第87-88页 |
第二节 展望 | 第88-91页 |
参考文献 | 第91-103页 |
附录A:修正的二流理论的MATLAB计算程序 | 第103-106页 |
致谢 | 第106-107页 |
个人简历 | 第107页 |