| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·论文研究背景及意义 | 第10-11页 |
| ·生产过程对生产质量的决定性 | 第11页 |
| ·SPC 的概念及发展 | 第11-13页 |
| ·SPC 的概念及作用 | 第11-12页 |
| ·SPC 的实施程序 | 第12-13页 |
| ·SPC 的发展 | 第13页 |
| ·SPC 在国内外的应用 | 第13-14页 |
| ·本论文的主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 基于SPC 的生产过程质量控制系统的总体方案设计 | 第16-23页 |
| ·电子元器件生产过程统计质量控制的技术流程 | 第16页 |
| ·电子元器件产品质量的核心评价的技术 | 第16-19页 |
| ·系统体系结构设计 | 第19-20页 |
| ·系统体系结构的分析 | 第19-20页 |
| ·本系统的解决方案 | 第20页 |
| ·系统架构设计 | 第20-21页 |
| ·系统数据库设计 | 第21-23页 |
| 第三章 基于SPC 的生产过程质量控制系统的功能设计 | 第23-29页 |
| ·系统功能的设计原则 | 第23-24页 |
| ·系统的组成部分 | 第24页 |
| ·系统功能模块设计 | 第24-29页 |
| ·系统管理模块 | 第25页 |
| ·质量文档管理 | 第25-26页 |
| ·质量信息输入模块 | 第26页 |
| ·质量数据分析与处理模块 | 第26-28页 |
| ·不良品管理模块 | 第28-29页 |
| 第四章 生产过程质量控制关键技术的研究 | 第29-45页 |
| ·电子元器件生产过程中质量特性的确定 | 第29-30页 |
| ·质量特性及其分类 | 第29页 |
| ·关键工序的确定 | 第29-30页 |
| ·关键工艺参数的确定 | 第30页 |
| ·质量控制方法的改进 | 第30-39页 |
| ·统计过程控制(SPC)的核心工具 | 第30-32页 |
| ·传统质量控制方法 | 第32-33页 |
| ·控制方法的改进 | 第33-35页 |
| ·应用案例 | 第35-39页 |
| ·质量诊断模块的设计与实现 | 第39-45页 |
| ·设计思路 | 第39-40页 |
| ·控制图的判异准则 | 第40-43页 |
| ·质量诊断模块的实现方法 | 第43-45页 |
| 第五章 基于SPC 的电子元器件生产过程质量控制系统的实现 | 第45-63页 |
| ·系统的开发环境 | 第45-46页 |
| ·系统开发硬件环境 | 第45页 |
| ·系统开发软件环境 | 第45-46页 |
| ·系统软件的设计原则 | 第46-47页 |
| ·界面设计 | 第47-54页 |
| ·界面设计原则 | 第47页 |
| ·界面设计过程 | 第47-48页 |
| ·界面实现 | 第48-54页 |
| ·SPC 在PTC 生产过程质量控制中的应用案例 | 第54-63页 |
| ·均值-极差((x|-)-R)控制图PTC 瓷片厚度的分析与监控 | 第54-60页 |
| ·不合格品率控制图对PTC 外观分选不合格品的分析与监控 | 第60-63页 |
| 第六章 总结与展望 | 第63-65页 |
| ·总结 | 第63页 |
| ·展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第69-70页 |
