首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--自动化技术及设备论文--自动化系统论文--数据处理、数据处理系统论文

基于近红外比色测温技术对炉内温度全视场检测系统的研究

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-6页
目录第6-9页
第1章 引言第9-11页
   ·课题背景及研究意义第9-10页
   ·本文的主要内容第10页
   ·本论文的创新点第10-11页
第2章 系统结构组成及其软件设计第11-17页
   ·炉内工件比色测温系统结构组成第11页
   ·系统部件第11-15页
     ·分光镜第11-12页
     ·滤波片的选择第12-13页
     ·CCD摄像机的选取第13页
     ·图像采集卡第13-14页
     ·图像传感器第14-15页
   ·系统软件设计第15-17页
     ·软件设计流程第15-16页
     ·温度场显示第16页
     ·温度变化率曲线显示及温度参数诊断第16-17页
第3章 比色测温原理第17-28页
   ·红外辐射的基本理论第17-23页
     ·基本概念和名词第17-19页
     ·透射、反射、吸收定律第19-20页
     ·基尔霍夫定律第20页
     ·普朗克定律第20-22页
     ·维恩定律第22-23页
     ·斯特藩-波尔兹曼定律第23页
     ·红外辐射源的光谱辐射效率第23页
   ·比色测温原理第23-28页
     ·比色测温原理第24-25页
     ·图像的灰度值与温度第25-27页
     ·比色测温法的优点第27-28页
第4章 测温系统误差分析第28-31页
   ·系统误差分析第28-31页
     ·灰度假设误差第28页
     ·滤波片峰值及带宽误差第28页
     ·光学镜片误差第28-29页
     ·CCD摄像机误差第29页
     ·测温标定的误差第29页
     ·背景辐射误差第29-31页
第5章 系统误差修正方法第31-55页
   ·滤波片带宽修正第31-33页
   ·提高灰度值采集等级修正第33-34页
   ·对采集图像进行预处理第34-35页
   ·实际物体的红外辐射第35页
   ·数据及K值的修正第35-42页
     ·K值标定及其变化趋势分析第36-38页
     ·修正函数的拟合第38-42页
       ·插值函数理论第38-39页
       ·最小二乘法第39-42页
   ·基于ORIGIN软件的K值修正第42-46页
     ·Origin介绍第42页
     ·Origin数据处理第42-46页
     ·用Origin实现K值分区域修正第46页
   ·基于剔除背景辐射的K值修正第46-55页
     ·目标与背景辐射对比度第46-47页
     ·环境辐射对比色测温的影响第47-52页
     ·修正方法第52-53页
     ·结论第53-55页
第6章 结论第55-57页
   ·工作回顾第55页
   ·结论及展望第55-57页
参考文献第57-59页
致谢第59-60页
攻读硕士学位期间发表的论文第60-61页

论文共61页,点击 下载论文
上一篇:基于ATmega128的数字射频切换器控制系统的设计
下一篇:地震动传感器的目标检测和识别算法研究