基于近红外比色测温技术对炉内温度全视场检测系统的研究
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-6页 |
目录 | 第6-9页 |
第1章 引言 | 第9-11页 |
·课题背景及研究意义 | 第9-10页 |
·本文的主要内容 | 第10页 |
·本论文的创新点 | 第10-11页 |
第2章 系统结构组成及其软件设计 | 第11-17页 |
·炉内工件比色测温系统结构组成 | 第11页 |
·系统部件 | 第11-15页 |
·分光镜 | 第11-12页 |
·滤波片的选择 | 第12-13页 |
·CCD摄像机的选取 | 第13页 |
·图像采集卡 | 第13-14页 |
·图像传感器 | 第14-15页 |
·系统软件设计 | 第15-17页 |
·软件设计流程 | 第15-16页 |
·温度场显示 | 第16页 |
·温度变化率曲线显示及温度参数诊断 | 第16-17页 |
第3章 比色测温原理 | 第17-28页 |
·红外辐射的基本理论 | 第17-23页 |
·基本概念和名词 | 第17-19页 |
·透射、反射、吸收定律 | 第19-20页 |
·基尔霍夫定律 | 第20页 |
·普朗克定律 | 第20-22页 |
·维恩定律 | 第22-23页 |
·斯特藩-波尔兹曼定律 | 第23页 |
·红外辐射源的光谱辐射效率 | 第23页 |
·比色测温原理 | 第23-28页 |
·比色测温原理 | 第24-25页 |
·图像的灰度值与温度 | 第25-27页 |
·比色测温法的优点 | 第27-28页 |
第4章 测温系统误差分析 | 第28-31页 |
·系统误差分析 | 第28-31页 |
·灰度假设误差 | 第28页 |
·滤波片峰值及带宽误差 | 第28页 |
·光学镜片误差 | 第28-29页 |
·CCD摄像机误差 | 第29页 |
·测温标定的误差 | 第29页 |
·背景辐射误差 | 第29-31页 |
第5章 系统误差修正方法 | 第31-55页 |
·滤波片带宽修正 | 第31-33页 |
·提高灰度值采集等级修正 | 第33-34页 |
·对采集图像进行预处理 | 第34-35页 |
·实际物体的红外辐射 | 第35页 |
·数据及K值的修正 | 第35-42页 |
·K值标定及其变化趋势分析 | 第36-38页 |
·修正函数的拟合 | 第38-42页 |
·插值函数理论 | 第38-39页 |
·最小二乘法 | 第39-42页 |
·基于ORIGIN软件的K值修正 | 第42-46页 |
·Origin介绍 | 第42页 |
·Origin数据处理 | 第42-46页 |
·用Origin实现K值分区域修正 | 第46页 |
·基于剔除背景辐射的K值修正 | 第46-55页 |
·目标与背景辐射对比度 | 第46-47页 |
·环境辐射对比色测温的影响 | 第47-52页 |
·修正方法 | 第52-53页 |
·结论 | 第53-55页 |
第6章 结论 | 第55-57页 |
·工作回顾 | 第55页 |
·结论及展望 | 第55-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |
致谢 | 第59-60页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第60-61页 |