摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 绪论 | 第11-25页 |
1.1 LED发展历史与现状 | 第11-12页 |
1.2 LED的结构和发光机理 | 第12-14页 |
1.3 LED的量子效率与Droop效应 | 第14-19页 |
1.3.1 量子效率 | 第14-15页 |
1.3.2 Droop效应 | 第15-19页 |
1.4 GaN基LED的老化机理 | 第19-22页 |
1.5 研究内容概述 | 第22-25页 |
第二章 结合短期老化对低温下蓝绿光LED光效下降现象的研究 | 第25-39页 |
2.1 研究背景 | 第25-26页 |
2.2 实验设计 | 第26-28页 |
2.3 低温下点缺陷对蓝绿光LED光电性能的影响 | 第28-38页 |
2.3.1 实验现象 | 第28-32页 |
2.3.2 理论分析 | 第32-36页 |
2.3.3 自热效应与补充实验 | 第36-38页 |
2.4 结论 | 第38-39页 |
第三章 基于高光谱技术对短期老化过程中绿光LED光学性能变化的研究 | 第39-51页 |
3.1 高光谱成像技术 | 第39-40页 |
3.2 研究背景 | 第40-41页 |
3.3 显微镜-高光谱系统以及实验设计 | 第41-43页 |
3.4 实验结果与分析 | 第43-49页 |
3.4.1 短期老化过程中芯片表面光学性能的变化 | 第43-47页 |
3.4.2 小电流下芯片表面光学性能的不均匀分布 | 第47-49页 |
3.5 结论 | 第49-51页 |
第四章 总结与展望 | 第51-53页 |
参考文献 | 第53-61页 |
硕士期间研究成果 | 第61-63页 |
致谢 | 第63页 |