| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 列车轴温智能探测系统概述 | 第9-11页 |
| 1.2 论文研究背景 | 第11-13页 |
| 1.3 国内外相关研究情况 | 第13-16页 |
| 1.4 论文研究的主要内容和任务 | 第16-17页 |
| 1.4.1 论文研究的主要内容 | 第16页 |
| 1.4.2 论文研究的主要任务 | 第16-17页 |
| 第2章 制冷型光子红外探测器相关理论 | 第17-27页 |
| 2.1 制冷型光子红外探测器的简介 | 第17-19页 |
| 2.2 制冷型光子红外探测器基本工作原理 | 第19-26页 |
| 2.3 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 列车轴温探测系统及对光子器件性能要求 | 第27-35页 |
| 3.1 列车轴温探测系统 | 第27-32页 |
| 3.1.1 THDS-A系统的组成和基本原理 | 第27-29页 |
| 3.1.2 轴温探测光子探头构成 | 第29-32页 |
| 3.2 THDS-A轴温探测系统对光子器件的性能要求 | 第32-34页 |
| 3.2.1 制冷型光子器件的性能参数 | 第32-34页 |
| 3.2.2 THDS-A探测系统对光子器件的性能要求 | 第34页 |
| 3.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 二级制冷光子器件检测电路研究 | 第35-43页 |
| 4.1 铂电阻温度传感器电路研究 | 第35-38页 |
| 4.2 测温信号处理电路研究 | 第38-39页 |
| 4.3 探测器输出微弱信号放大及校零电路研究 | 第39-41页 |
| 4.4 本章小结 | 第41-43页 |
| 第5章 二级制冷光子器件筛选老化平台设计 | 第43-55页 |
| 5.1 二级制冷光子器件筛选老化平台整体设计 | 第43-45页 |
| 5.1.1 二级制冷光子器件筛选老化平台系统构成 | 第43-45页 |
| 5.1.2 测试机箱的整体设计 | 第45页 |
| 5.2 测试机箱机械部件设计 | 第45-48页 |
| 5.2.1 制冷型光子器件的散热 | 第45-46页 |
| 5.2.2 测试机箱的散热 | 第46-47页 |
| 5.2.3 测试机箱机笼设计 | 第47-48页 |
| 5.2.4 干扰信号屏蔽 | 第48页 |
| 5.3 测试机箱电路模块设计 | 第48-51页 |
| 5.3.1 测试机箱的测试模块 | 第48-49页 |
| 5.3.2 测试机箱的供电模块 | 第49-50页 |
| 5.3.3 光子器件安装板 | 第50-51页 |
| 5.4 软件需求 | 第51-53页 |
| 5.5 本章小结 | 第53-55页 |
| 结论 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 致谢 | 第61页 |