快速故障检测在硅后验证中的优化技术研究
| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 引言 | 第8-10页 |
| 1.2 研究背景 | 第10-13页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.4 论文研究工作 | 第15页 |
| 1.5 论文组织结构 | 第15-16页 |
| 2 基于LLVM的故障检测方法优化 | 第16-38页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 LLVM编译器架构 | 第16-19页 |
| 2.3 软件签名的控制流错误检测 | 第19-31页 |
| 2.3.1 软件签名的控制流错误检测算法概述 | 第19-23页 |
| 2.3.2 基于LLVM的CFCSS算法实现 | 第23-28页 |
| 2.3.3 基于LLVM的CFCSS算法优化 | 第28-31页 |
| 2.4 指令复制的错误检测 | 第31-35页 |
| 2.4.1 指令复制的错误检测算法概述 | 第31-32页 |
| 2.4.2 基于LLVM的EDDI算法实现 | 第32-34页 |
| 2.4.3 基于LLVM的EDDI算法优化 | 第34-35页 |
| 2.5 主动访存的错误检测 | 第35-37页 |
| 2.5.1 主动访存的错误检测算法概述 | 第35-36页 |
| 2.5.2 基于LLVM的PLC算法实现 | 第36-37页 |
| 2.5.3 基于LLVM的PLC算法优化 | 第37页 |
| 2.6 本章小结 | 第37-38页 |
| 3 故障延迟检测框架 | 第38-46页 |
| 3.1 引言 | 第38页 |
| 3.2 故障延迟检测框架概述 | 第38-39页 |
| 3.3 预处理 | 第39-41页 |
| 3.4 故障注入 | 第41-43页 |
| 3.4.1 候选故障指令的选取 | 第41-42页 |
| 3.4.2 候选故障指令的修改 | 第42-43页 |
| 3.5 故障延迟检测 | 第43-45页 |
| 3.6 本章小结 | 第45-46页 |
| 4 实验测试 | 第46-55页 |
| 4.1 故障检测算法效率测试 | 第47-52页 |
| 4.1.1 CFCSS算法测试 | 第47-49页 |
| 4.1.2 EDDI算法测试 | 第49-50页 |
| 4.1.3 PLC算法测试 | 第50-52页 |
| 4.2 粒度可控测试 | 第52-55页 |
| 5 总结与展望 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-62页 |
| 附录 | 第62-63页 |
| A.作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第62页 |
| B.作者在攻读学位期间发表的专利目录 | 第62-63页 |
| C.作者在攻读学位期间参加的科研项目目录 | 第63页 |
