中文摘要 | 第3-4页 |
英文摘要 | 第4-5页 |
1 绪论 | 第9-21页 |
1.1 课题的研究背景 | 第9-18页 |
1.1.1 粒子物理学及标准模型 | 第10-11页 |
1.1.2 希格斯工厂及CEPC计划 | 第11-14页 |
1.1.3 CEPC探测器介绍 | 第14-16页 |
1.1.4 量能器介绍 | 第16-18页 |
1.2 课题的研究意义 | 第18-19页 |
1.3 本文的研究目的和研究内容 | 第19-20页 |
1.3.1 本文研究的目的 | 第19页 |
1.3.2 本文研究的主要内容 | 第19-20页 |
1.4 论文的结构 | 第20-21页 |
2 塑料闪烁体探测器的制作 | 第21-31页 |
2.1 塑料闪烁体探测器 | 第21-24页 |
2.1.1 基本原理 | 第21-22页 |
2.1.2 探测单元的制作 | 第22-24页 |
2.2 SiPM介绍 | 第24-26页 |
2.2.1 SiPM基本工作原理 | 第24-25页 |
2.2.2 MPPC性能研究 | 第25-26页 |
2.3 数据获取系统 | 第26-28页 |
2.3.1 读出板介绍 | 第26-27页 |
2.3.2 DAQ软件介绍 | 第27-28页 |
2.4 SiPM与PMT | 第28-29页 |
2.5 本章小结 | 第29-31页 |
3 MPPC模块的探测单元研究 | 第31-45页 |
3.1 介绍 | 第31页 |
3.2 均匀性测量 | 第31-34页 |
3.2.1 实验测量过程 | 第31-33页 |
3.2.2 实验结果分析 | 第33-34页 |
3.3 宇宙射线测量 | 第34-37页 |
3.3.1 宇宙射线简介 | 第34页 |
3.3.2 实验测量过程 | 第34-35页 |
3.3.3 实验结果分析 | 第35-37页 |
3.4 测量数据的MC验证 | 第37-38页 |
3.5 国产塑料闪烁体初步测试 | 第38-39页 |
3.6 探测效率测试 | 第39-40页 |
3.7 光学串扰率测量 | 第40-42页 |
3.7.1 90 mm×90mm×3mm大探测单元的制作 | 第40-41页 |
3.7.2 不同反射材料下的光学串扰率研究 | 第41-42页 |
3.8 本章小结 | 第42-45页 |
4 国产SiPM的探测单元研究 | 第45-53页 |
4.1 NDL-SiPM介绍 | 第45-46页 |
4.2 电子学系统介绍 | 第46-47页 |
4.3 SiPM刻度 | 第47-48页 |
4.4 探测单元的主要性能研究 | 第48-52页 |
4.4.1 探测效率测试 | 第50页 |
4.4.2 均匀性测试 | 第50-51页 |
4.4.3 稳定性测试 | 第51-52页 |
4.5 本章小结 | 第52-53页 |
5 探测单元均匀性的蒙特卡洛模拟 | 第53-61页 |
5.1 蒙特卡洛方法介绍 | 第53-54页 |
5.2 粒子物理实验数据处理软件介绍 | 第54-55页 |
5.3 塑料闪烁体探测单元建模 | 第55-57页 |
5.3.1 程序建模 | 第55-57页 |
5.3.2 物理过程 | 第57页 |
5.3.3 SiPM响应 | 第57页 |
5.4 模拟流程 | 第57-58页 |
5.5 模拟结果分析 | 第58-60页 |
5.6 本章小结 | 第60-61页 |
6 总结与展望 | 第61-63页 |
6.1 总结 | 第61-62页 |
6.2 展望 | 第62-63页 |
致谢 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-71页 |
附录 | 第71-81页 |
A.作者在攻读学位期间发表的论文目录 | 第71页 |
B.作者在攻读硕士期间参加的科研项目 | 第71-73页 |
C.探测单元的蒙特卡洛模拟部分程序 | 第73-81页 |