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基于白光干涉的微观形貌检测系统设计研究

摘要第3-4页
Abstract第4页
1 绪论第7-15页
    1.1 研究背景及意义第7页
    1.2 微观形貌检测的发展及研究现状第7-13页
    1.3 课题来源第13页
    1.4 本系统微观形貌检测方法的确定第13-14页
    1.5 本文主要研究内容第14-15页
2 扫描白光干涉光机电系统理论研究第15-24页
    2.1 扫描白光干涉显微测量系统的工作原理第15-18页
        2.1.1 白光干涉原理及特征第15-16页
        2.1.2 测量系统工作原理确定第16-18页
    2.2 基于扫描白光干涉技术的粗糙度及三维形貌检测的理论研究第18-23页
        2.2.1 表面粗糙度的评定及测量的理论研究第18-19页
        2.2.2 三维形貌恢复算法的理论研究第19-21页
        2.2.3 相干峰提取算法的理论研究第21-23页
    2.3 本章小结第23-24页
3 基于扫描白光干涉的微观形貌检测系统的结构设计第24-56页
    3.1 微观形貌检测系统的设计要求及性能指标第24页
    3.2 微观形貌检测系统的总体设计方案第24-26页
    3.3 光学系统的结构设计第26-32页
        3.3.1 光学系统方案确定第26-28页
        3.3.2 分光镜暗箱的结构设计第28-30页
        3.3.3 图像采集装置的结构设计第30-31页
        3.3.4 其他机械结构的设计及测量核心装配第31-32页
    3.4 电动载物台的机械结构设计第32-39页
        3.4.1 二维电动平移台方案的确定第32-34页
        3.4.2 微升降机构的结构设计第34-35页
        3.4.3 二维角度调节机构的结构设计第35-37页
        3.4.4 电动载物台总体装配及模态分析第37-39页
    3.5 电动升降台的机械结构设计第39-45页
        3.5.1 滚珠丝杠及步进电机的计算与选型第39-42页
        3.5.2 电动升降台的其他零件选配及装配第42-43页
        3.5.3 电动升降台静力学分析第43-45页
    3.6 微位移器的机械结构设计第45-52页
        3.6.1 压电陶瓷特征及选择第46-47页
        3.6.2 微位移器的结构设计第47-48页
        3.6.3 微位移器有限元分析第48-52页
    3.7 整机模态分析及系统总装配第52-54页
    3.8 本章小结第54-56页
4 扫描白光干涉微观形貌测量软件设计第56-62页
    4.1 软件开发方案第56页
    4.2 运动控制模块第56-59页
    4.3 扫描采样及图像采集模块第59-60页
    4.4 数据处理及结果显示模块第60-61页
    4.5 本章小结第61-62页
5 扫描白光干涉微观形貌检测系统的测量实验与结果分析第62-70页
    5.1 CCD相机靶面校准第62-63页
    5.2 测量系统性能参数第63-64页
        5.2.1 系统分辨率第63-64页
        5.2.2 系统检测范围第64页
    5.3 重复性精度实验第64-67页
    5.4 典型光电器件的三维形貌及粗糙度测量实例第67-69页
    5.5 本章小结第69-70页
6 论文总结与展望第70-72页
    6.1 论文工作总结第70-71页
    6.2 论文创新点第71页
    6.3 有待进一步研究的问题第71-72页
致谢第72-73页
参考文献第73-77页
附录第77页

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