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能量选择表面仿真、测试与防护应用研究

摘要第12-13页
ABSTRACT第13-14页
缩略语与符号使用说明第15-17页
第一章 绪论第17-29页
    1.1 研究背景第17-20页
        1.1.1 强电磁环境的产生与威胁第17-19页
        1.1.2 空间自适应防护技术第19-20页
    1.2 非线性电磁仿真测试研究现状第20-26页
        1.2.1 三维电磁结构的场路联合仿真技术第20-21页
        1.2.2 集总加载电磁结构的测试技术第21-26页
    1.3 研究内容与章节安排第26-29页
第二章 能量选择表面瞬态仿真研究第29-51页
    2.1 基于卷积技术的场路联合仿真第29-33页
        2.1.1 戴维南网络等效第29-30页
        2.1.2 卷积积分方程求解第30-32页
        2.1.3 空间场分布计算第32-33页
    2.2 多端口网络的时域建模算法第33-46页
        2.2.1 因果离散脉冲响应提取方法第34-40页
        2.2.2 大规模网络的脉冲响应建模第40-46页
    2.3 有限大能量选择表面分析第46-50页
    2.4 本章小结第50-51页
第三章 用于能量选择表面的器件测量研究第51-79页
    3.1 传统TRL校准算法第52-65页
        3.1.1 测量夹具误差模型第52-53页
        3.1.2 TRL校准三步曲第53-60页
        3.1.3 TRL校准隐含特性第60-65页
    3.2 TRL校准算法的改进研究第65-74页
        3.2.1 任意长度阻抗传输线变换第65-67页
        3.2.2 小型集总贴片器件测量第67-74页
    3.3 测量夹具研制与测试第74-78页
        3.3.1 器件无损测试夹具设计第75-78页
        3.3.2 测量一致性测试第78页
    3.4 本章小结第78-79页
第四章 能量选择表面测试研究第79-109页
    4.1 半导体器件性能测试第79-89页
        4.1.1 直流伏安特性测试第79-82页
        4.1.2 脉冲反向恢复特性测试第82-85页
        4.1.3 零偏/导通S参数测试第85-89页
    4.2 能量选择表面有源偏置测试第89-98页
        4.2.1 防护测试样品和方法简介第89-90页
        4.2.2 基于屏蔽箱的测试方法研究第90-92页
        4.2.3 基于吸波墙的测试方法研究第92-95页
        4.2.4 基于吸波腔的测试方法研究第95-98页
    4.3 能量选择表面强场辐照测试第98-108页
        4.3.1 防护器件微波导通阈值测试第98-104页
        4.3.2 高功率微波辐照测试方法研究第104-108页
    4.4 本章小结第108-109页
第五章 能量选择表面防护应用研究第109-123页
    5.1 有限大能量选择表面灵敏度分析第109-115页
        5.1.1 概率统计与数值建模第109-112页
        5.1.2 器件参数不一致性分析第112-113页
        5.1.3 器件焊接合格率分析第113-115页
    5.2 基于石墨烯的能量选择表面设计第115-121页
        5.2.1 电导率对屏蔽效能的影响第117-119页
        5.2.2 石墨烯代替金属试验分析第119-121页
    5.3 本章小结第121-123页
第六章 总结与展望第123-125页
    6.1 研究成果第123-124页
    6.2 应用展望第124-125页
致谢第125-127页
参考文献第127-135页
作者在学期间取得的学术成果第135-137页
附录A 微波测量去嵌入校准相关推导和证明第137-143页
    A.1 S参数、T参数定义及相互转换第137-138页
    A.2 反射校准件测量端口反射系数计算第138-139页
    A.3 T参数归一化阻抗变换第139-143页
        A.3.1 T参数转化为Z参数第139-140页
        A.3.2 Z参数转为T参数第140-141页
        A.3.3 T参数相互转化第141-143页
附录B MATLAB测试相关程序第143-149页
    B.1 代码1:任意长度传输线变换第143-144页
    B.2 代码2:二端口集中器件TL去嵌入校准第144-147页
    B.3 代码3:基于SCPI仪器控制的自动频率/功率扫描第147-149页

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