SoC片上系统测试调度优化技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-11页 |
| 1.2 SoC测试调度优化技术国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 测试体系结构国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 测试调度方法国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第2章 SoC测试调度优化总体方案设计 | 第15-25页 |
| 2.1 总体研究方案设计 | 第15-16页 |
| 2.2 SoC测试技术 | 第16-19页 |
| 2.2.1 可测性设计 | 第16-17页 |
| 2.2.2 扫描测试 | 第17-19页 |
| 2.3 SoC测试体系架构 | 第19-23页 |
| 2.3.1 测试环 | 第20-21页 |
| 2.3.2 测试访问机制 | 第21-23页 |
| 2.4 测试调度 | 第23-24页 |
| 2.5 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 SoC测试体系结构的设计 | 第25-39页 |
| 3.1 引言 | 第25页 |
| 3.2 测试壳的设计 | 第25-34页 |
| 3.2.1 边界寄存器WBR的设计 | 第27-29页 |
| 3.2.2 旁路寄存器WBY的设计 | 第29-30页 |
| 3.2.3 指令寄存器WIR的设计 | 第30-33页 |
| 3.2.4 控制信号产生电路的设计 | 第33-34页 |
| 3.3 测试访问机制TAM的设计 | 第34-35页 |
| 3.4 仿真实验 | 第35-38页 |
| 3.4.1 旁路模式仿真 | 第37-38页 |
| 3.4.2 并行内部测试模式仿真 | 第38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 SoC测试调度算法的优化 | 第39-56页 |
| 4.1 引言 | 第39页 |
| 4.2 测试调度常用算法分析 | 第39-46页 |
| 4.2.1 整形线性规划 | 第39-41页 |
| 4.2.2 遗传算法 | 第41-44页 |
| 4.2.3 蚁群算法 | 第44-46页 |
| 4.3 基于改进蚁群算法的优化调度方法设计 | 第46-49页 |
| 4.3.1 并行测试任务调度问题描述 | 第46-47页 |
| 4.3.2 算法设计与分析 | 第47-49页 |
| 4.4 实例分析与对比 | 第49-55页 |
| 4.4.1 实验数据 | 第50页 |
| 4.4.2 实验参数 | 第50页 |
| 4.4.3 实验结果及分析 | 第50-52页 |
| 4.4.4 参数的影响及选择 | 第52-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第5章 实验平台搭建与实例验证 | 第56-63页 |
| 5.1 引言 | 第56页 |
| 5.2 实验平台搭建 | 第56-57页 |
| 5.3 上位机软件的设计 | 第57-59页 |
| 5.4 被测电路的可测性设计 | 第59-60页 |
| 5.5 测试调度方法验证 | 第60-62页 |
| 5.6 本章小结 | 第62-63页 |
| 结论 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
