| 中文摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第8页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第8-9页 |
| 1.3 论文研究重点 | 第9页 |
| 1.4 后续章节重点及安排 | 第9-11页 |
| 第二章 射频识别理论基础及相关协议介绍 | 第11-20页 |
| 2.1 无源RFID系统架构及工作原理 | 第11页 |
| 2.2 RFID系统频率及相关标准 | 第11-12页 |
| 2.3 ISO/IEC 18000-3 协议mode1模式 | 第12-20页 |
| 2.3.1 阅读器到标签的数据传输 | 第13-16页 |
| 2.3.2 标签到阅读器的数据传输 | 第16-18页 |
| 2.3.3 主状态转移图 | 第18-19页 |
| 2.3.4 防冲突方法 | 第19-20页 |
| 第三章 芯片设计 | 第20-49页 |
| 3.1 模拟前端设计 | 第21-42页 |
| 3.1.1 能量获取模块 | 第21-25页 |
| 3.1.2 电源管理模块 | 第25-31页 |
| 3.1.3 解调模块 | 第31-37页 |
| 3.1.4 调制模块 | 第37-38页 |
| 3.1.5 时钟提取模块 | 第38-40页 |
| 3.1.6 其它模块 | 第40页 |
| 3.1.7 模拟前端电路仿真 | 第40-42页 |
| 3.2 数字处理单元设计 | 第42-49页 |
| 3.2.1 数字电路的设计流程 | 第42页 |
| 3.2.2 数字电路功能与逻辑划分 | 第42-48页 |
| 3.2.3 数字电路物理设计 | 第48页 |
| 3.2.4 数字电路仿真 | 第48-49页 |
| 第四章 芯片测试 | 第49-55页 |
| 4.1 芯片各部分测试及分析 | 第49-52页 |
| 4.1.1 能量获取电路测试 | 第49-50页 |
| 4.1.2 电源管理模块测试 | 第50-51页 |
| 4.1.3 解调模块测试 | 第51页 |
| 4.1.4 时钟提取模块测试 | 第51-52页 |
| 4.1.5 复位电路测试 | 第52页 |
| 4.2 整体电路测试及分析 | 第52-55页 |
| 第五章 电路改进及性能仿真 | 第55-71页 |
| 5.1 模拟前端电路改进 | 第55-65页 |
| 5.1.1 接口电路仿真模型改进 | 第55-57页 |
| 5.1.2 整流电路改进 | 第57-59页 |
| 5.1.3 带隙基准电压源改进 | 第59-62页 |
| 5.1.4 10%解调电路改进 | 第62-63页 |
| 5.1.5 时钟提取电路改进 | 第63-64页 |
| 5.1.6 模拟电路版图优化 | 第64-65页 |
| 5.2 改进电路仿真 | 第65-71页 |
| 5.2.1 模拟前端仿真 | 第65-66页 |
| 5.2.2 整体电路混合仿真 | 第66-71页 |
| 第六章 总结与展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |