| 摘要 | 第2-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 荧光偏振检测技术的研究背景和研究意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外的研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 研究的主要内容 | 第11-12页 |
| 1.4 论文的结构与安排 | 第12-14页 |
| 2 荧光偏振检测系统的总体设计 | 第14-19页 |
| 2.1 荧光偏振检测系统的总体分析 | 第14-15页 |
| 2.2 荧光偏振检测系统的整体架构及功能特点 | 第15-16页 |
| 2.2.1 荧光偏振检测系统的整体架构 | 第15-16页 |
| 2.2.2 荧光偏振检测系统的功能特点 | 第16页 |
| 2.3 荧光偏振检测系统的工作过程 | 第16-18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 3 荧光探针的原理及制备 | 第19-36页 |
| 3.1 荧光探针的原理 | 第19-27页 |
| 3.1.1 荧光偏振技术 | 第19-22页 |
| 3.1.2 分子印迹技术 | 第22-23页 |
| 3.1.3 基于磁纳米颗粒的荧光分子印迹聚合物 | 第23-27页 |
| 3.2 荧光探针的实验室制备 | 第27-34页 |
| 3.2.1 实验部分 | 第27-30页 |
| 3.2.2 实验结果与讨论 | 第30-34页 |
| 3.3 本章小结 | 第34-36页 |
| 4 荧光偏振检测系统上位机软件设计 | 第36-57页 |
| 4.1 软件开发平台——Visual Basic 6.0 | 第36-39页 |
| 4.1.1 Visual Basic的功能特点 | 第36-38页 |
| 4.1.2 Visual Basic的开发界面 | 第38-39页 |
| 4.2 上位机软件的总体设计 | 第39-40页 |
| 4.3 系统界面设计 | 第40-41页 |
| 4.4 登录门限与上位机主界面设计 | 第41-46页 |
| 4.4.1 登录门限设计 | 第41-42页 |
| 4.4.2 上位机主界面设计 | 第42-46页 |
| 4.5 串口通信模块设计 | 第46-50页 |
| 4.5.1 MSComm控件简介 | 第46-47页 |
| 4.5.2 MSComm控件的属性设置 | 第47-49页 |
| 4.5.3 串口通信模块设计 | 第49-50页 |
| 4.6 其他各个模块的设计 | 第50-56页 |
| 4.6.1 检测操作模块设计 | 第50-53页 |
| 4.6.2 仪器参数设置模块设计 | 第53-55页 |
| 4.6.3 系统测试模块设计 | 第55-56页 |
| 4.7 本章小结 | 第56-57页 |
| 5 荧光偏振检测系统数据处理算法 | 第57-65页 |
| 5.1 神经网络算法 | 第57-61页 |
| 5.1.1 神经网络模型 | 第57页 |
| 5.1.2 神经网络结构 | 第57-59页 |
| 5.1.3 BP神经网络算法 | 第59-61页 |
| 5.2 基于样本集分割的集成算法 | 第61-62页 |
| 5.3 算法数据分析 | 第62-64页 |
| 5.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 6 系统调试与检测分析 | 第65-72页 |
| 6.1 系统调试 | 第65-68页 |
| 6.1.1 通信测试 | 第65-66页 |
| 6.1.2 ComDlg32模块调试 | 第66-67页 |
| 6.1.3 With block变量调试 | 第67页 |
| 6.1.4 工程属性调试 | 第67-68页 |
| 6.2 检测结果分析 | 第68-71页 |
| 6.2.1 仪器重复性误差分析 | 第68页 |
| 6.2.2 孔位不均匀性测试 | 第68-70页 |
| 6.2.3 仪器灵敏度测试 | 第70-71页 |
| 6.3 本章小结 | 第71-72页 |
| 7 总结与展望 | 第72-74页 |
| 7.1 总结 | 第72-73页 |
| 7.2 后期工作展望 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 攻读硕士期间发表的论文 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78-80页 |