| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 数字芯片故障预测与健康管理的研究背景和研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 数字芯片故障预测与健康管理的关键研究方法浅析 | 第12页 |
| 1.3 数字芯片故障预测与健康管理的研究难点和研究现状 | 第12-13页 |
| 1.4 数字芯片故障预测与健康管理的发展趋势 | 第13-14页 |
| 1.5 论文主要研究内容 | 第14-16页 |
| 第二章 数字芯片的故障预测与健康管理基础内容 | 第16-26页 |
| 2.1 数字芯片基础知识 | 第16-20页 |
| 2.1.1 数字芯片基本结构 | 第16-18页 |
| 2.1.2 数字芯片故障影响因素 | 第18页 |
| 2.1.3 数字芯片失效机制及故障特征 | 第18-20页 |
| 2.1.4 数字芯片故障特征参数选取原则 | 第20页 |
| 2.2 故障预测与健康管理技术 | 第20-24页 |
| 2.2.1 故障预测与健康管理的起源 | 第21页 |
| 2.2.2 故障预测与健康管理的研究思路 | 第21页 |
| 2.2.3 故障预测与健康管理的研究内容 | 第21-22页 |
| 2.2.4 故障预测与健康管理的优势 | 第22页 |
| 2.2.5 故障预测与健康管理的体系结构 | 第22-23页 |
| 2.2.6 故障预测与健康管理的关键研究方法 | 第23-24页 |
| 2.3 本章小结 | 第24-26页 |
| 第三章 数字芯片的故障预测与健康管理核心算法 | 第26-38页 |
| 3.1 选择数字芯片的故障预测与健康管理核心算法 | 第26-27页 |
| 3.1.1 核心算法需求分析 | 第26-27页 |
| 3.1.2 核心算法建模原理 | 第27页 |
| 3.2 数字芯片的故障预测与健康管理核心算法模型 | 第27-30页 |
| 3.2.1 神经元节点模型 | 第28-30页 |
| 3.2.2 神经网络连接模型 | 第30页 |
| 3.3 数字芯片的故障预测与健康管理核心算法原理 | 第30-37页 |
| 3.3.1 BP神经网络 | 第31页 |
| 3.3.2 基于BP神经网络的核心算法 | 第31-37页 |
| 3.4 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 数字芯片的故障预测与健康管理模型 | 第38-54页 |
| 4.1 数字芯片的故障预测与健康管理建模方法概述 | 第38-39页 |
| 4.2 数字芯片特征参数 | 第39-41页 |
| 4.2.1 数字芯片故障参数选择 | 第39-40页 |
| 4.2.2 数字芯片故障影响因素选择 | 第40-41页 |
| 4.3 数字芯片故障预测与健康管理模型关键结构设计 | 第41-43页 |
| 4.3.1 温度故障模型结构设计 | 第41-42页 |
| 4.3.2 故障预测模型结构设计 | 第42-43页 |
| 4.4 数字芯片故障预测与健康管理模型关键参数设计 | 第43-45页 |
| 4.4.1 初始化连接权值 | 第43-44页 |
| 4.4.2 初始化模型期望误差 | 第44页 |
| 4.4.3 初始化模型学习率 | 第44-45页 |
| 4.4.4 初始化模型最大循环次数 | 第45页 |
| 4.5 训练样本获取及预处理 | 第45-46页 |
| 4.5.1 获取模型训练样本数据 | 第45页 |
| 4.5.2 模型训练样本数据预处理 | 第45-46页 |
| 4.6 数字芯片温度故障模型 | 第46-49页 |
| 4.6.1 温度故障模型训练 | 第46-48页 |
| 4.6.2 温度故障模型应用 | 第48-49页 |
| 4.7 数字芯片故障预测模型 | 第49-51页 |
| 4.7.1 故障预测模型训练 | 第49-50页 |
| 4.7.2 故障预测模型应用 | 第50-51页 |
| 4.8 数字芯片健康管理 | 第51-53页 |
| 4.9 本章小结 | 第53-54页 |
| 第五章 数字芯片故障预测与健康管理的应用试验 | 第54-76页 |
| 5.1 研究方案设计 | 第54-56页 |
| 5.1.1 研究变量的选取 | 第54页 |
| 5.1.2 研究变量的测量方法设计 | 第54-55页 |
| 5.1.3 测试平台系统硬件模块设计 | 第55-56页 |
| 5.1.4 测试平台系统软件模块设计 | 第56页 |
| 5.2 软硬件研究平台实现 | 第56-61页 |
| 5.2.1 测试平台系统硬件模块实现 | 第57-59页 |
| 5.2.2 测试平台系统软件模块实现 | 第59-61页 |
| 5.3 实验过程 | 第61-62页 |
| 5.4 实验样本数据整理 | 第62-64页 |
| 5.4.1 实验样本数据选取 | 第62页 |
| 5.4.2 实验样本数据预处理 | 第62-64页 |
| 5.5 数字芯片的温度故障模型实际应用 | 第64-68页 |
| 5.5.1 数字芯片的温度故障模型训练实验 | 第64-65页 |
| 5.5.2 数字芯片的温度故障模型实际应用实验 | 第65-66页 |
| 5.5.3 温度故障模型实验结果分析 | 第66-68页 |
| 5.6 数字芯片的故障预测模型实际应用 | 第68-71页 |
| 5.6.1 数字芯片的故障预测模型训练实验 | 第68-69页 |
| 5.6.2 数字芯片的故障预测模型实际应用实验 | 第69页 |
| 5.6.3 故障预测模型实验结果分析 | 第69-71页 |
| 5.7 数字芯片的健康管理应用 | 第71-75页 |
| 5.7.1 数字芯片特征参数变化规律 | 第71-74页 |
| 5.7.2 数字芯片健康状况和应对策略 | 第74-75页 |
| 5.8 本章小结 | 第75-76页 |
| 第六章 总结 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第82-83页 |
