摘要 | 第4-5页 |
abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-24页 |
1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
1.2 带电粒子与聚合物材料的相互作用 | 第10-12页 |
1.3 聚醚醚酮带电粒子辐射效应 | 第12-17页 |
1.3.1 电子辐照 | 第12-14页 |
1.3.2 重离子辐照 | 第14-17页 |
1.4 同步辐射X射线散射技术 | 第17-20页 |
1.4.1 X射线分析测试技术 | 第17-18页 |
1.4.2 小角X射线散射技术 | 第18-19页 |
1.4.3 广角X射线衍射技术 | 第19-20页 |
1.5 基于X射线衍射技术研究聚合物变形机理 | 第20-23页 |
1.6 本文的主要研究内容 | 第23-24页 |
第2章 试验材料及分析测试方法 | 第24-30页 |
2.1 试验材料 | 第24页 |
2.2 辐照试验及参数 | 第24-25页 |
2.3 分析测试方法 | 第25-30页 |
2.3.1 拉伸试验 | 第25页 |
2.3.2 同步辐射X射线小角散射及广角衍射试验 | 第25-28页 |
2.3.3 差示扫描量热(DSC)试验 | 第28-29页 |
2.3.4 电子顺磁共振(EPR)分析 | 第29页 |
2.3.5 傅立叶变换红外光谱(FTIR)分析 | 第29页 |
2.3.6 X射线光电子能谱(XPS)分析 | 第29-30页 |
第3章 高能电子辐照聚醚醚酮拉伸变形机理 | 第30-47页 |
3.1 高能电子辐照聚醚醚酮的拉伸行为表征 | 第30-31页 |
3.2 拉伸过程中PEEK微观结构的SAXS分析 | 第31-38页 |
3.2.1 未辐照PEEK的SAXS分析 | 第31-34页 |
3.2.2 1MeV电子辐照的PEEK的SAXS分析 | 第34-38页 |
3.3 拉伸过程中PEEK微观结构的WAXD分析 | 第38-41页 |
3.3.1 未辐照PEEK的WAXD分析 | 第38-39页 |
3.3.2 不同注量1MeV电子辐照后PEEK的WAXD分析 | 第39-41页 |
3.4 辐照前后PEEK微观结构的静态分析 | 第41-45页 |
3.4.1 EPR分析 | 第41-42页 |
3.4.2 FTIR分析 | 第42页 |
3.4.3 DSC分析 | 第42-44页 |
3.4.4 XPS分析 | 第44-45页 |
3.5 本章小结 | 第45-47页 |
第4章 低能质子辐照聚醚醚酮损伤机理 | 第47-63页 |
4.1 低能质子辐照聚醚醚酮的拉伸行为 | 第47-48页 |
4.2 基于GISAXS的微观结构分析 | 第48-57页 |
4.2.1 未辐照PEEK的微观结构分析 | 第48-50页 |
4.2.2 低能质子辐照后PEEK的微观结构分析 | 第50-57页 |
4.3 辐照前后PEEK微观结构的静态分析 | 第57-61页 |
4.3.1 EPR分析 | 第57-58页 |
4.3.2 FTIR分析 | 第58-59页 |
4.3.3 DSC分析 | 第59-60页 |
4.3.4 XPS分析 | 第60-61页 |
4.4 本章小结 | 第61-63页 |
结论 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-70页 |
致谢 | 第70页 |