LED驱动电源性能退化评估及测试方法研究
| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| 1.2.1 驱动电源性能退化研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 性能退化评估方法研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.3 现状分析 | 第11-12页 |
| 1.3 本文主要研究工作 | 第12页 |
| 1.4 本章小结 | 第12-13页 |
| 2 LED驱动电源性能退化研究 | 第13-26页 |
| 2.1 引言 | 第13页 |
| 2.2 LED驱动电源基本原理 | 第13-14页 |
| 2.3 LED电源主要元器件性能退化研究 | 第14-19页 |
| 2.3.1 铝电解电容性能退化分析 | 第15-16页 |
| 2.3.2 功率MOSFET性能退化分析 | 第16-17页 |
| 2.3.3 电阻器性能退化分析 | 第17-18页 |
| 2.3.4 功率二极管性能退化分析 | 第18-19页 |
| 2.4 LED驱动电源性能退化分析 | 第19-25页 |
| 2.4.1 电路仿真平台及参数设置 | 第19-22页 |
| 2.4.2 电路性能退化分析 | 第22-24页 |
| 2.4.3 电路特征参数分析 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 3 LED驱动电源试验方案设计 | 第26-34页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 加速退化试验概述 | 第26-28页 |
| 3.2.1 加速退化试验的提出 | 第26-27页 |
| 3.2.2 加速退化试验分类比较 | 第27-28页 |
| 3.3 SSADT试验方法理论 | 第28-30页 |
| 3.3.1 SSADT试验方法 | 第29-30页 |
| 3.3.2 SSADT试验基本假设 | 第30页 |
| 3.4 SSADT试验方案 | 第30-32页 |
| 3.4.1 应力类型选择 | 第30页 |
| 3.4.2 应力水平上下限确定 | 第30-31页 |
| 3.4.3 样本个数与应力转换时间确定 | 第31-32页 |
| 3.4.4 试验方案的确定 | 第32页 |
| 3.5 本章小结 | 第32-34页 |
| 4 实验平台及数据分析 | 第34-46页 |
| 4.1 实验平台概述 | 第34-36页 |
| 4.1.1 LED灯具 | 第34-35页 |
| 4.1.2 恒温箱 | 第35-36页 |
| 4.2 系统总体方案设计 | 第36-43页 |
| 4.2.1 系统的硬件设计 | 第37-42页 |
| 4.2.2 系统的软件设计 | 第42-43页 |
| 4.3 实验及数据分析 | 第43-45页 |
| 4.3.1 正常温度应力S0测量 | 第43页 |
| 4.3.2 退化数据分析 | 第43-45页 |
| 4.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 5 LED驱动电源性能退化评估 | 第46-55页 |
| 5.1 引言 | 第46页 |
| 5.2 寿命评估基本流程 | 第46页 |
| 5.3 统计模型建立与分析 | 第46-53页 |
| 5.3.1 模型拟合 | 第46-50页 |
| 5.3.2 伪失效寿命计算 | 第50-51页 |
| 5.3.3 伪失效寿命分布假设检验 | 第51-52页 |
| 5.3.4 加速模型拟合 | 第52-53页 |
| 5.4 性能退化评估 | 第53-54页 |
| 5.4.1 平均寿命 | 第53页 |
| 5.4.2 可靠度曲线 | 第53-54页 |
| 5.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 6 结论与展望 | 第55-57页 |
| 6.1 结论 | 第55页 |
| 6.2 展望 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 附录 | 第61页 |
| A. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文或专利 | 第61页 |
| B. 作者在攻读硕士学位期间取得的工作成果目录 | 第61页 |
