提高NAND Flash存储系统可靠性的关键技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 图目录 | 第9-11页 |
| 表目录 | 第11-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-19页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第12页 |
| ·NAND Flash 介绍 | 第12-16页 |
| ·NAND Flash 芯片结构 | 第13-14页 |
| ·NAND Flash 分类 | 第14-15页 |
| ·NAND Flash 的误码率 | 第15-16页 |
| ·可靠性研究的必要性 | 第16-18页 |
| ·论文结构及其章节安排 | 第18-19页 |
| 第2章 纠错技术的研究 | 第19-33页 |
| ·概述 | 第19页 |
| ·Hamming 码纠错 | 第19-26页 |
| ·Hamming 码简介 | 第19-20页 |
| ·编码原理 | 第20-24页 |
| ·译码原理 | 第24-26页 |
| ·BCH 码纠错 | 第26-32页 |
| ·BCH 码简介 | 第26页 |
| ·BCH 码基本原理 | 第26-28页 |
| ·编码原理 | 第28-30页 |
| ·译码原理 | 第30-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 纠错技术的设计和实现 | 第33-58页 |
| ·Hamming 码纠错 | 第33-50页 |
| ·参数选择 | 第34-36页 |
| ·结构设计 | 第36-37页 |
| ·FPGA 实现 | 第37-40页 |
| ·验证及结果 | 第40-49页 |
| ·占用资源论证 | 第49-50页 |
| ·BCH 码纠错 | 第50-55页 |
| ·BCH IP 核介绍 | 第50-51页 |
| ·FPGA 设计和实现 | 第51-52页 |
| ·验证及结果 | 第52-55页 |
| ·占用资源论证 | 第55页 |
| ·对比与分析 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第4章 坏块管理与磨损均衡技术研究 | 第58-66页 |
| ·坏块管理技术 | 第58-61页 |
| ·概述 | 第58页 |
| ·坏块管理的实现 | 第58-61页 |
| ·磨损均衡技术 | 第61-66页 |
| ·概述 | 第61-62页 |
| ·磨损均衡的研究 | 第62-65页 |
| ·磨损均衡技术的应用 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-70页 |
| 攻读学位期间发表论文与研究成果清单 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
