微纳探针定位操作技术试验研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-12页 |
| 1 绪论 | 第12-19页 |
| ·课题研究的背景及目的意义 | 第12页 |
| ·纳米操作技术发展概述 | 第12-17页 |
| ·接触式单探针操作系统 | 第12-14页 |
| ·光镊式微纳操作 | 第14-16页 |
| ·近场捕获方案 | 第16-17页 |
| ·纳米操作技术研究现状概述 | 第17页 |
| ·课题来源 | 第17-18页 |
| ·课题主要研究内容 | 第18-19页 |
| 2 微纳操作的力学分析与模型建立 | 第19-32页 |
| ·微观空间近场操作物体的基本原理 | 第19-21页 |
| ·近场光学操作的理论依据 | 第19页 |
| ·局域增强隐失场的基本原理 | 第19-21页 |
| ·纳米粒子受力研究 | 第21-29页 |
| ·光阱力的理论研究 | 第21-27页 |
| ·操作对象与基底间的力学分析 | 第27-29页 |
| ·微粒受力分析 | 第29页 |
| ·AFM探针定位操作模型建立 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 3 激光复合微纳探针操作仿真分析 | 第32-42页 |
| ·光纤探针近场增强仿真分析 | 第32-36页 |
| ·光纤探针仿真物理模型建立 | 第32-33页 |
| ·光纤探针仿真条件的确定 | 第33-34页 |
| ·光纤探针仿真结果及影响因素研究 | 第34-36页 |
| ·AFM探针近场增强仿真实验 | 第36-38页 |
| ·AFM探针仿真模型建立与参数设定 | 第36-37页 |
| ·AFM探针仿真结果分析 | 第37-38页 |
| ·光纤探针出射激光辐照AFM探针仿真分析 | 第38-41页 |
| ·两探针耦合仿真模型建立 | 第38-39页 |
| ·两探针耦合仿真结果及影响因素分析 | 第39-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 4 双探针耦合操作纳米粒子的实验研究 | 第42-53页 |
| ·实验系统搭建与调试 | 第42-45页 |
| ·双探针耦合系统的基本构架 | 第42-43页 |
| ·光纤探针光路系统组件 | 第43-44页 |
| ·AFM观测与图像处理系统 | 第44-45页 |
| ·纳米操作准备实验 | 第45-48页 |
| ·操作样品的选择 | 第45-46页 |
| ·操作样品的制备 | 第46-48页 |
| ·实验结果及分析 | 第48-52页 |
| ·光纤探针传输激光辐照AFM探针搭建实验 | 第48-49页 |
| ·AFM探针定位操作实验 | 第49-50页 |
| ·双探针复合定位操作实验 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 5 结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60页 |
