| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-11页 |
| ·统计过程控制 | 第8-9页 |
| ·SPC 基本原理 | 第8-9页 |
| ·SPC 的发展 | 第9页 |
| ·本文的研究意义 | 第9-11页 |
| 第2章 控制图 | 第11-16页 |
| ·控制图的基本概念 | 第11-13页 |
| ·两状态：可控状态（IC）和失控状态（OC）和平均运行长度（ARL） | 第11页 |
| ·两阶段：第Ⅰ阶段和第Ⅱ阶段 | 第11页 |
| ·两类概率：第一类错误概率与第二类错误概率及平均运行步长（ARL） | 第11-13页 |
| ·控制图的介绍和发展 | 第13-16页 |
| 第3章 非参数控制图与多元控制图 | 第16-21页 |
| ·非参数控制图 | 第16-19页 |
| ·基本概念 | 第16-18页 |
| ·发展 | 第18-19页 |
| ·多元控制图 | 第19-21页 |
| ·基本概念 | 第19页 |
| ·发展 | 第19-20页 |
| ·自启动多元 EWMA 控制图 | 第20-21页 |
| 第4章 本文研究的一种新的与分布无关的控制图 | 第21-32页 |
| ·非参数方法 Wilcoxon 秩和检验 | 第21页 |
| ·序贯变点探查方法 | 第21-23页 |
| ·序贯概率比检验 | 第21页 |
| ·序贯变点探测方法 | 第21-23页 |
| ·控制图的设计与方法 | 第23-32页 |
| ·设计理论 | 第23页 |
| ·求控制线 | 第23-24页 |
| ·编程思路 | 第24页 |
| ·控制图的比较效果 | 第24-32页 |
| 第5章 结论 | 第32-33页 |
| 参考文献 | 第33-37页 |
| 致谢 | 第37-38页 |
| 申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第38页 |