| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| ·研究背景及意义 | 第9-11页 |
| ·MEMS 红外光源国内外研究现状 | 第11-13页 |
| ·红外光电标识技术研究现状 | 第13-17页 |
| ·光电调制技术 | 第14-15页 |
| ·红外光电识别技术 | 第15-17页 |
| ·论文研究内容 | 第17-18页 |
| ·课题来源 | 第18-19页 |
| 第二章 红外光电标识技术原理与基础 | 第19-29页 |
| ·红外光电标识技术原理 | 第19-20页 |
| ·红外光电标识用光源 | 第20-24页 |
| ·红外发光二极管 | 第20-22页 |
| ·红外激光器 | 第22-23页 |
| ·热辐射型红外光源 | 第23-24页 |
| ·MEMS 红外光源 | 第24-27页 |
| ·光电标识用红外光源选取 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 MEMS 红外光源性能研究 | 第29-49页 |
| ·MEMS 红外光源电学特性测试分析 | 第29-33页 |
| ·电学性能测试原理 | 第29-30页 |
| ·测试平台搭建 | 第30-31页 |
| ·电学性能测试与分析 | 第31-33页 |
| ·MEMS 红外光源光学特性研究 | 第33-46页 |
| ·辐射体光谱分布测试与分析 | 第34-40页 |
| ·光栅分光法测试 | 第34-37页 |
| ·光谱辐射计测试法 | 第37-39页 |
| ·光谱仪测试法 | 第39-40页 |
| ·辐射强度测试分析 | 第40-44页 |
| ·辐射轴向衰减特性测试分析 | 第41-43页 |
| ·辐射指向性测试分析 | 第43-44页 |
| ·辐射体温度特性测试与分析 | 第44-46页 |
| ·MEMS 红外光源调制特性研究 | 第46-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 红外光源阵列编码调制技术研究 | 第49-59页 |
| ·MEMS 红外光源单元驱动设计研究 | 第49-51页 |
| ·MEMS 红外光源阵列结构设计 | 第51-54页 |
| ·阵列结构设计 | 第51-52页 |
| ·阵列结构机械制造工艺实现 | 第52-54页 |
| ·MEMS 红外光源阵列编码控制研究 | 第54-58页 |
| ·光源阵列控制电路设计 | 第54-56页 |
| ·光源阵列编码控制程序设计 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 红外光源阵列光电标识特性研究 | 第59-70页 |
| ·红外光源阵列内场标识特性研究 | 第59-64页 |
| ·中红外标识特性测试与分析 | 第59-60页 |
| ·中远红外标识特性测试与分析 | 第60-64页 |
| ·红外光源阵列外场标识特性研究 | 第64-68页 |
| ·光源阵列夜间标识特性 | 第64-66页 |
| ·光源阵列日间标识特性 | 第66-67页 |
| ·外场标识测试结果分析 | 第67-68页 |
| ·光电标识用光源阵列设计优化 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第六章 总结及展望 | 第70-73页 |
| ·论文总结 | 第70-71页 |
| ·主要创新点 | 第71-72页 |
| ·工作展望 | 第72-73页 |
| 附录 | 第73-105页 |
| 附 1 MEMS 红外光源三维阵列编码 VHDL 程序代码（侧面板及顶面板） | 第73-90页 |
| 附 2 MEMS 红外光源三维阵列编码 VHDL 程序代码（侧面板） | 第90-105页 |
| 参考文献 | 第105-110页 |
| 攻读硕士期间学术成果情况 | 第110-111页 |
| 致谢 | 第111-113页 |