首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--基本电子电路论文--调制技术与调制器、解调技术与解调器论文--调制技术与调制器论文

基于SOI脊型波导的跑道型谐振腔电光调制器

摘要第1-6页
Abstract第6-8页
目录第8-10页
第一章 绪论第10-18页
   ·本课题研究的背景第10-11页
   ·谐振腔的国内外研究现状第11-14页
   ·调制器的国内外研究现状第14-16页
   ·本文的主要研究内容及意义第16-18页
第二章 SOI脊型波导跑道型谐振腔分析第18-26页
   ·SOI脊型波导的特性分析第18-23页
     ·脊型波导中的传输模式分析第18-20页
     ·脊型波导的模式仿真第20-22页
     ·脊型波导的偏振相关性第22-23页
   ·跑道型谐振腔模式分离特性分析第23-25页
   ·本章小结第25-26页
第三章 调制器电学结构的分析设计第26-34页
   ·P-I-N结简介第26-28页
   ·等离子体色散效应第28-31页
   ·P-I-N型调制器仿真分析及结构设计第31-33页
   ·本章小结第33-34页
第四章 跑道型谐振腔调制器的加工制备第34-40页
   ·关键工艺介绍第34-36页
     ·光刻第34页
     ·电子束光刻第34页
     ·等离子体刻蚀第34-35页
     ·离子注入第35页
     ·退火第35-36页
     ·电子束蒸发第36页
   ·跑道型谐振腔调制器的整体加工制备过程第36-39页
     ·P-I-N结的制备过程第36-37页
     ·波导结构的制备过程第37-38页
     ·绝缘层淀积及电极窗口腐蚀第38页
     ·高温退火第38页
     ·金属电极制作及引线键合第38-39页
   ·本章小结第39-40页
第五章 调制器测试结果分析第40-50页
   ·跑道型谐振腔测试结果分析第40-42页
   ·调制器静态特性测试第42-47页
     ·调制器频移特性测试第42-43页
     ·调制器P-I-N结特性测试第43-47页
   ·调制器动态特性测试第47-49页
     ·动态特性测试过程第47-48页
     ·动态特性测试结果分析第48-49页
   ·本章小结第49-50页
第六章 总结与展望第50-52页
   ·论文主要研究工作及创新性第50-51页
   ·下一步工作及未来研究方向第51-52页
参考文献第52-56页
攻读硕士学位期间的研究成果第56-57页
致谢第57页

论文共57页,点击 下载论文
上一篇:BGA内部缺陷检测技术研究
下一篇:MEMS红外光源阵列的编码调制与光电标识特性研究