双金属片形变测试系统的研究与设计
中文摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-10页 |
第一章 引言 | 第10-16页 |
·课题的研究背景、目的及意义 | 第10页 |
·试验箱国内外发展现状 | 第10-11页 |
·温控技术的发展 | 第11-12页 |
·位移检测技术研究现状 | 第12-15页 |
·接触式位移检测技术的研究现状 | 第12页 |
·非接触式位移检测技术的研究现状 | 第12-13页 |
·国内外激光三角法测量技术的发展现状 | 第13-15页 |
·课题研究的主要内容 | 第15页 |
·本章小结 | 第15-16页 |
第二章 双金属片变形测量系统总体方案 | 第16-26页 |
·测量条件及分析 | 第16-18页 |
·测量系统主要技术指标 | 第16页 |
·测试条件分析 | 第16-18页 |
·总体方案 | 第18-19页 |
·测量系统硬件组成 | 第18-19页 |
·装置控制系统组成 | 第19页 |
·模糊 PID 温度控制器设计 | 第19-22页 |
·模糊控制概论 | 第20页 |
·基于模糊自整定 PID 的温度控制系统 | 第20-21页 |
·控制器输入输出变量量化及调整规则确定 | 第21-22页 |
·形变测量方法及误差分析 | 第22-25页 |
·本章小结 | 第25-26页 |
第三章 测试系统主要部件设计及选型 | 第26-41页 |
·零件工装夹具的设计 | 第26-27页 |
·零件安装夹具的设计 | 第26-27页 |
·托架的设计 | 第27页 |
·三轴检测平台的设计 | 第27-31页 |
·激光位移传感器的确定 | 第27-29页 |
·三轴运动平台设计 | 第29-30页 |
·连接块的设计 | 第30-31页 |
·分体式恒温试验箱设计 | 第31-35页 |
·试验箱的主要设计指标 | 第31页 |
·试验箱的结构设计 | 第31-33页 |
·制冷制热系统设计 | 第33-35页 |
·测试系统硬件设计 | 第35-39页 |
·主控系统设计 | 第35页 |
·控制要求分析及信号分析 | 第35-38页 |
·主要部件的确定 | 第38-39页 |
·本章小结 | 第39-41页 |
第四章 测试系统软件设计 | 第41-57页 |
·控制系统 I/O 点分配 | 第41-42页 |
·模拟值输入的 I/O 点分配 | 第41页 |
·开关量的 I/0 点分配 | 第41-42页 |
·PLC 程序设计 | 第42-47页 |
·主程序 | 第42页 |
·初始化程序 | 第42-43页 |
·温度采集程序 | 第43-44页 |
·故障处理程序 | 第44页 |
·点动控制程序 | 第44页 |
·自动运行程序 | 第44-47页 |
·基于 LABVIEW 的控制程序设计 | 第47-54页 |
·主界面设计 | 第48-49页 |
·参数设置界面 | 第49页 |
·基于 Labview 的温度控制程序的设计 | 第49-50页 |
·数据采集 | 第50-53页 |
·报表生成 | 第53-54页 |
·触摸屏程序设计 | 第54-56页 |
·主界面设计 | 第55页 |
·参数设置画面 | 第55-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
第五章 实验研究及误差分析 | 第57-65页 |
·试验箱性能测试 | 第57-60页 |
·温度特性实验及分析 | 第57-58页 |
·温度波动性与均匀性 | 第58-60页 |
·升降温速度 | 第60页 |
·实验结果分析及改进方法 | 第60页 |
·测试系统的实验 | 第60-63页 |
·系统标定描述 | 第60-61页 |
·测试系统试验描述 | 第61页 |
·结果分析 | 第61-63页 |
·本章小结 | 第63-65页 |
第六章 结论与展望 | 第65-67页 |
·结论 | 第65-66页 |
·展望 | 第66-67页 |
参考文献 | 第67-69页 |
致谢 | 第69-71页 |
攻读学位期间发表的学术论文 | 第71-72页 |