四探针PCB电测机的实验研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题研究背景 | 第11-14页 |
| ·PCB生产工艺流程 | 第11-12页 |
| ·PCB电测制程中常见困难问题点 | 第12-13页 |
| ·PCB电测机国内外发展现状及不足 | 第13-14页 |
| ·本论文的主要研究内容 | 第14-16页 |
| ·研究内容的提出 | 第14-15页 |
| ·主要研究工作 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 第二章 四探针测试技术的工作原理 | 第17-26页 |
| ·四探针法的分类 | 第17页 |
| ·常规四探针法 | 第17-20页 |
| ·常规四探针测试技术的工作原理 | 第17-19页 |
| ·直线四探针法的边缘和厚度修正问题 | 第19-20页 |
| ·改进型范德堡测试法 | 第20-21页 |
| ·改进型范德堡原理 | 第20-21页 |
| ·解决边缘修正的相关问题 | 第21页 |
| ·方形四探针测试法 | 第21-24页 |
| ·斜置式方形四探针法原理 | 第22-24页 |
| ·斜置式方形四探针修正问题 | 第24页 |
| ·本课题最终所采用的测试方法 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 四探针PCB电测机系统硬件设计 | 第26-49页 |
| ·总体设计框图 | 第26-27页 |
| ·PCI数字I/O卡 | 第27-30页 |
| ·虚拟仪器的构成方式 | 第27-28页 |
| ·ICP DAS PIO-D48U数字I/0 | 第28-30页 |
| ·接口控制电路 | 第30-31页 |
| ·恒流源电路 | 第31-34页 |
| ·恒流源电路 | 第32-34页 |
| ·电路调试 | 第34页 |
| ·逻辑控制电路 | 第34-35页 |
| ·分布式开关矩阵单元的硬件设计 | 第35-38页 |
| ·分布式开关单元中的控制系统 | 第35-36页 |
| ·四探针阵列开关与电流换向 | 第36-37页 |
| ·电路设计 | 第37-38页 |
| ·A/D转换电路 | 第38-42页 |
| ·AD7884 芯片介绍 | 第39-40页 |
| ·电路设计 | 第40-41页 |
| ·电路调试 | 第41-42页 |
| ·放大电路 | 第42-44页 |
| ·AD526IC芯片介绍 | 第43页 |
| ·电路设计 | 第43-44页 |
| ·电路调试 | 第44页 |
| ·电源采样电路 | 第44-45页 |
| ·电路设计 | 第44-45页 |
| ·电路调试 | 第45页 |
| ·直流稳压电源 | 第45-48页 |
| ·电路设计 | 第45-47页 |
| ·电路调试 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 四探针PCB电测机系统软件设计 | 第49-63页 |
| ·系统运行所需要具备的环境介绍 | 第49页 |
| ·硬件环境 | 第49页 |
| ·软件环境 | 第49页 |
| ·系统软件的总体设计 | 第49-50页 |
| ·硬件驱动程序 | 第50-52页 |
| ·测量控制单元模块的软件设计 | 第52-62页 |
| ·测试系统的导通测试子程序 | 第52-54页 |
| ·四探针微阻测量子程序 | 第54-55页 |
| ·系统自检子程序 | 第55-56页 |
| ·测量数据采集子程序 | 第56-57页 |
| ·数据处理子程序 | 第57-60页 |
| ·信号放大控制子程序 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 四探针PCB电测机测试与分析 | 第63-68页 |
| ·金属电阻测试 | 第63页 |
| ·PCB过孔缺陷 | 第63-67页 |
| ·不同厚径比的孔内切片铜厚数据分析 | 第64-65页 |
| ·过孔缺陷测试 | 第65-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 研究总结与展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 附件 | 第72页 |
