高精度ΣΔADC的测试方案研究与性能分析
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·研究背景及意义 | 第10-11页 |
| ·国内外发展现状 | 第11-12页 |
| ·论文组织结构 | 第12-14页 |
| 第二章 ADC 测试技术和数据传输方法 | 第14-26页 |
| ·静态测试原理及技术 | 第14-15页 |
| ·斜坡电压测试法 | 第14页 |
| ·柱形图测试法 | 第14-15页 |
| ·动态测试原理及技术 | 第15-24页 |
| ·传统动态测试法 | 第15页 |
| ·正弦波曲线拟合算法 | 第15-17页 |
| ·FFT 快速傅立叶测试法 | 第17-23页 |
| ·单频信号 FFT 测试法 | 第23-24页 |
| ·ADC 测试数据传输方法 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 ΣΔADC 基本原理及测试参数 | 第26-35页 |
| ·ΣΔADC 基本原理 | 第26-27页 |
| ·ΣΔADC 内部功能模块 | 第27-28页 |
| ·ΣΔADC 主要性能指标 | 第28页 |
| ·外部主要测试端口 | 第28-29页 |
| ·ΣΔADC 芯片封装 | 第29页 |
| ·常用测试参数定义 | 第29-34页 |
| ·数字满刻度电平 | 第29-30页 |
| ·分贝、满刻度 | 第30-31页 |
| ·数字信号峰值电压 | 第31-32页 |
| ·均方根值 | 第32-33页 |
| ·增益 | 第33页 |
| ·最大输入信号电平 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 高精度ΣΔADC 的测试方案实现 | 第35-50页 |
| ·测试总方案设计 | 第35-36页 |
| ·硬件测试平台 | 第36-37页 |
| ·ADC 测试转换板 | 第37-44页 |
| ·总体模块设计 | 第37-38页 |
| ·电源模块设计 | 第38-40页 |
| ·时钟电路设计 | 第40-41页 |
| ·ADC 模块设计 | 第41-42页 |
| ·外部接口模块设计 | 第42页 |
| ·FPGA 模块设计 | 第42-44页 |
| ·ADC 测试板布局、布线设计 | 第44-45页 |
| ·软件测试平台 | 第45-49页 |
| ·功能控制区 | 第46-47页 |
| ·数据设置区 | 第47-48页 |
| ·读写数据比较区 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第五章 高精度ΣΔADC 的参数分析与功能验证 | 第50-61页 |
| ·静态参数测量及分析 | 第50-54页 |
| ·测量板噪声 | 第50-53页 |
| ·测量偏置电流 | 第53-54页 |
| ·动态参数测量及分析 | 第54-59页 |
| ·测量 POR 信号 | 第54-55页 |
| ·测量 SNR | 第55-59页 |
| ·ADC 功能验证 | 第59-61页 |
| 第六章 结论 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第67-68页 |
