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光谱线型法研究介质阻挡放电等离子体参量

摘要第1-6页
Abstract第6-8页
第1章 引言第8-11页
第2章 实验装置与实验方法第11-19页
   ·实验装置第11页
   ·实验方法第11-19页
     ·电子激发温度第11-13页
     ·分子振动温度第13-14页
     ·电子密度第14-19页
第3章 光谱线型法研究介质阻挡放电斑图等离子体密度第19-28页
   ·Stark展宽计算四边形、六边形斑图电子密度第19-23页
   ·Stark频移计算四边形、六边形斑图电子密度第23-25页
   ·四边形、六边形斑图振动温度的光谱诊断第25-28页
第4章 van der Waals展宽法研究介质阻挡放电气体温度第28-36页
   ·气体温度诊断的方法第28-31页
   ·利用van der Waals展宽计算介质阻挡放电气体温度第31-36页
第5章 谱线强度比法研究介质阻挡放电等离子体温度第36-46页
   ·气体压强对电子激发温度、分子振动温度的影响第36-39页
   ·气体成分对混合气体放电能量传递的影响第39-43页
   ·外加电压对氩气放电电子激发温度的影响第43-46页
第6章 结束语第46-47页
参考文献第47-52页
附录:攻读硕士学位期间发表论文目录第52-53页
致谢第53页

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