摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
第1章 引言 | 第8-11页 |
第2章 实验装置与实验方法 | 第11-19页 |
·实验装置 | 第11页 |
·实验方法 | 第11-19页 |
·电子激发温度 | 第11-13页 |
·分子振动温度 | 第13-14页 |
·电子密度 | 第14-19页 |
第3章 光谱线型法研究介质阻挡放电斑图等离子体密度 | 第19-28页 |
·Stark展宽计算四边形、六边形斑图电子密度 | 第19-23页 |
·Stark频移计算四边形、六边形斑图电子密度 | 第23-25页 |
·四边形、六边形斑图振动温度的光谱诊断 | 第25-28页 |
第4章 van der Waals展宽法研究介质阻挡放电气体温度 | 第28-36页 |
·气体温度诊断的方法 | 第28-31页 |
·利用van der Waals展宽计算介质阻挡放电气体温度 | 第31-36页 |
第5章 谱线强度比法研究介质阻挡放电等离子体温度 | 第36-46页 |
·气体压强对电子激发温度、分子振动温度的影响 | 第36-39页 |
·气体成分对混合气体放电能量传递的影响 | 第39-43页 |
·外加电压对氩气放电电子激发温度的影响 | 第43-46页 |
第6章 结束语 | 第46-47页 |
参考文献 | 第47-52页 |
附录:攻读硕士学位期间发表论文目录 | 第52-53页 |
致谢 | 第53页 |