基于DES理论的数模混合电路测试方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 致谢 | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-22页 |
| ·引言 | 第11-12页 |
| ·可测试性技术概述 | 第12-14页 |
| ·数模混合电路故障诊断技术 | 第14-20页 |
| ·电路的故障诊断 | 第14-19页 |
| ·数模混合电路故障诊断方法及现状 | 第19-20页 |
| ·课题研究的目的及意义 | 第20-22页 |
| 第二章 基于DES理论的数模混合电路测试技术 | 第22-33页 |
| ·离散事件系统(DES)理论概述 | 第22-24页 |
| ·离散事件 | 第22-23页 |
| ·离散事件系统(DES) | 第23-24页 |
| ·基于DES理论的电路模型及可测试性分析 | 第24-27页 |
| ·电路的可测试性 | 第25页 |
| ·电路的最小测试集 | 第25-26页 |
| ·故障隔离率 | 第26-27页 |
| ·DES理论在电路测试中的应用 | 第27-33页 |
| ·DES理论在数字电路测试中的应用 | 第27-29页 |
| ·DES理论在模拟电路测试中的应用 | 第29-31页 |
| ·DES理论在数模混合电路测试中的应用 | 第31-33页 |
| 第三章 数模混合电路最小测试集的求取 | 第33-43页 |
| ·电路的最小测试集 | 第33页 |
| ·最小测试集的求取方法 | 第33-36页 |
| ·移走法 | 第33-34页 |
| ·模拟退火法 | 第34-35页 |
| ·GASA混合优化策略 | 第35-36页 |
| ·用蚁群算法求取电路的最小测试集 | 第36-41页 |
| ·蚁群算法概述 | 第36-37页 |
| ·蚁群算法的原理 | 第37-39页 |
| ·用于测试集的蚁群算法 | 第39-41页 |
| ·小结 | 第41-43页 |
| 第四章 数模混合电路故障的仿真与分析 | 第43-56页 |
| ·EDA技术简介 | 第43-44页 |
| ·Multisim8软件 | 第44-45页 |
| ·电路故障仿真实例 | 第45-56页 |
| ·实例电路图 | 第45-46页 |
| ·电路的故障仿真和建模分析 | 第46-54页 |
| ·实验小结 | 第54-56页 |
| 第五章 数模混合电路的自动测试系统 | 第56-66页 |
| ·自动测试系统 | 第56-58页 |
| ·自动测试系统的构成 | 第56-57页 |
| ·自动测试系统的发展概况 | 第57-58页 |
| ·电路测试系统的设计 | 第58-61页 |
| ·测试系统的总线 | 第58-60页 |
| ·测试系统的设计方案 | 第60-61页 |
| ·电路测试系统的软件 | 第61-64页 |
| ·电路测试软件平台 | 第61-62页 |
| ·系统软件的设计 | 第62-64页 |
| ·小结 | 第64-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-69页 |
| ·对本文工作的总结 | 第66页 |
| ·对未来的展望 | 第66-69页 |
| ·对可测试性技术的展望 | 第66-67页 |
| ·对故障诊断技术的展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第73页 |
