热中子诱发~(235)U裂变短寿命产物产额测量
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第一章 原子核裂变与裂变产额 | 第6-18页 |
·原子核裂变现象的发现 | 第6-7页 |
·核裂变研究的意义 | 第7-8页 |
·裂变机理及相关概念 | 第8-11页 |
·裂变机理 | 第8-9页 |
·裂变过程 | 第9-11页 |
·裂变产物产额 | 第11-15页 |
·裂变产物的质量分布 | 第11-14页 |
·裂变产物的电荷分布 | 第14-15页 |
·裂变产额的应用 | 第15页 |
·短寿命裂变产物产额测量方法 | 第15-16页 |
·短寿命裂变产物产额数据现状 | 第16-18页 |
第二章 短寿命裂变产物产额相对测量方法 | 第18-37页 |
·实验方案 | 第18-21页 |
·相对测量方法 | 第18-19页 |
·参考核素选取 | 第19-20页 |
·实验条件描述 | 第20-21页 |
·实验关键技术 | 第21-29页 |
·高纯锗探测器效率刻度 | 第21-27页 |
·靶的制备与辐照 | 第27-28页 |
·堆垒损失控制 | 第28-29页 |
·实验过程概述 | 第29-30页 |
·数据处理 | 第30-37页 |
·γ谱分析 | 第30-31页 |
·编写控制文件 | 第31-33页 |
·确定裂变率 | 第33-35页 |
·计算结果分析及异常值剔除 | 第35-36页 |
·数据结果及不确定度分析 | 第36-37页 |
第三章 产额结果与讨论 | 第37-43页 |
·待测目标核素衰变参数 | 第37-38页 |
·衰变曲线及产额结果 | 第38-40页 |
·实验相关问题讨论 | 第40-43页 |
结束语 | 第43-44页 |
参考文献 | 第44-45页 |
致谢 | 第45-46页 |
附录一: 各产物核素衰变曲线 | 第46-57页 |
附录二: 产额测量原始数据 | 第57-67页 |