纳米流体流场测量中散斑图像处理算法研究
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-7页 |
1 绪论 | 第7-12页 |
·研究背景及意义 | 第7-8页 |
·流场显示及测量技术 | 第8-11页 |
·本文的研究内容 | 第11-12页 |
2 粒子图像测速技术与数字粒子图像测速技术 | 第12-29页 |
·粒子图像测速(PIV)技术 | 第12-16页 |
·PIV 技术的发展历史 | 第12-14页 |
·PIV 技术的基本原理 | 第14-15页 |
·PIV 技术要点及在本课题中的应用 | 第15-16页 |
·数字粒子图像测速技术(DPIV) | 第16-18页 |
·DPIV 技术的发展历史及前景 | 第17-18页 |
·DPIV 技术的原理 | 第18页 |
·本文在测量纳米流场时使用的几种图像处理方法 | 第18-29页 |
·空域中的互相关处理方法 | 第18-21页 |
·运动估计中的块匹配算法 | 第21-24页 |
·频域中的相位相关的方法 | 第24-29页 |
3 纳米流体流场记录系统 | 第29-34页 |
·纳米流体的制备 | 第29-30页 |
·实验装置 | 第30-31页 |
·纳米流体静置时的实验装置 | 第30页 |
·纳米流体在容器中流动时的实验装置 | 第30-31页 |
·纳米流体散斑图像的形成 | 第31-33页 |
·实验中拍摄的散斑图 | 第33-34页 |
4 散斑图像的处理 | 第34-47页 |
·图像的预处理 | 第34-36页 |
·图像去噪(领域平均、低通滤波、中值滤波) | 第34-35页 |
·图像二值化(otsu算法) | 第35-36页 |
·纳米流体流场的绘制 | 第36-38页 |
·动态的速度测量 | 第38-39页 |
·亚像素估计 | 第39-43页 |
·高斯曲面插值法 | 第40-41页 |
·抛物面插值法 | 第41-42页 |
·二次曲面拟合法 | 第42-43页 |
·亚像素算法的验证 | 第43-45页 |
·用标准的 PIV 图像进行验证 | 第43-44页 |
·本课题拍摄的图像进行验证 | 第44-45页 |
·错误矢量的剔除 | 第45-47页 |
5 测量误差分析及处理 | 第47-49页 |
·图像采集系统的影响 | 第47页 |
·相关窗口的大小对结果的影响 | 第47-48页 |
·图像质量对计算结果的影响 | 第48页 |
·亚象素重建时插值误差 | 第48页 |
·误差的减小或消除 | 第48-49页 |
6 结语 | 第49-50页 |
致谢 | 第50-51页 |
参考文献 | 第51-53页 |