γ射线测量过程控制及其测量数据处理研究
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-10页 |
第1章 前言 | 第10-16页 |
·选题依据及研究意义 | 第10-11页 |
·国内外研究现状 | 第11-13页 |
·论文主要研究工作和特点 | 第13页 |
·成果特色 | 第13-14页 |
·论文结构与安排 | 第14-16页 |
第2章 γ射线测量理论及仪器基本指标 | 第16-23页 |
·γ射线概念及特征 | 第16页 |
·γ射线与物质的相互作用 | 第16页 |
·γ探测介质及其探测器 | 第16-17页 |
·γ能谱仪和γ射线总量仪 | 第17-18页 |
·γ射线的测量方法 | 第18页 |
·γ谱仪的基本指标 | 第18-23页 |
·探测效率 | 第19页 |
·能量分辨 | 第19-20页 |
·峰形 | 第20页 |
·峰康比 | 第20页 |
·高低能峰高比 | 第20页 |
·时间分辨 | 第20-21页 |
·谱仪的能量线性 | 第21页 |
·稳定性 | 第21-22页 |
·允许计数率 | 第22-23页 |
第3章 统计学基础及误差理论与数据处理 | 第23-41页 |
·数据的概括性度量 | 第23-26页 |
·集中趋势的度量 | 第23-24页 |
·离散程度的度量 | 第24-25页 |
·偏态与峰态的度量 | 第25-26页 |
·统计中常用的几种概率分布 | 第26-28页 |
·离散型概率分布 | 第26-27页 |
·连续型概率分布 | 第27-28页 |
·统计过程控制 | 第28-34页 |
·统计过程控制图 | 第29-33页 |
·测量能力指数 | 第33-34页 |
·一元线性回归 | 第34-35页 |
·变量之间关系的测度 | 第34页 |
·一元线性回归 | 第34-35页 |
·残差分析 | 第35页 |
·误差理论与数据处理基础 | 第35-38页 |
·系统误差 | 第35-36页 |
·随机误差 | 第36-37页 |
·粗大误差 | 第37-38页 |
·测量不确定度 | 第38-41页 |
·测量不确定度的评定方法分类 | 第38-39页 |
·测量不确定度评定的步骤 | 第39-41页 |
第4章 放射性测量中的统计学 | 第41-48页 |
·核衰变数和计数的统计分布 | 第41-42页 |
·单一放射性核素的衰减规律 | 第41页 |
·核衰变计数的统计分布 | 第41-42页 |
·放射性测量的统计误差 | 第42-43页 |
·测量数据的检验 | 第43页 |
·测量数据检测的局限 | 第43-44页 |
·不确定度在放射性γ能谱测量中的应用 | 第44-46页 |
·不确定度的来源 | 第44页 |
·建立满足测量不确定度评定所需的数学模型 | 第44-45页 |
·各不确定度分量对不确定度贡献的分析 | 第45-46页 |
·不确定度评价在放射性测量中的局限 | 第46-48页 |
第5章 有偏控制图和灰色理论的推导与计算 | 第48-62页 |
·数据质量 | 第48-49页 |
·数据质量的定义 | 第48页 |
·数据质量的维度 | 第48-49页 |
·稳定核素测量过程控制 | 第49-55页 |
·休哈特控制图的局限 | 第50-51页 |
·加权标准差方法的基本思想 | 第51-52页 |
·有偏总体的联合均值极差控制图 | 第52-55页 |
·测量能力指数的改造 | 第55-56页 |
·短寿命核素测量过程的控制 | 第56-58页 |
·短寿命核素测量过程控制的需求 | 第56页 |
·控制图理论推导 | 第56-57页 |
·统计控制图的建立步骤 | 第57-58页 |
·放射性测量不确定度评价 | 第58-62页 |
·现有放射性测量不确定度存在的问题 | 第58页 |
·现代不确定度理论及其发展 | 第58-59页 |
·测量标准不确定度的灰色评定 | 第59-62页 |
第6章 有偏控制图与灰色理论在γ测量中应用 | 第62-81页 |
·有偏控制图和测量能力指数的算例分析 | 第62-74页 |
·放射性测量能力指数计算与分析 | 第64页 |
·有偏控制图的计算与分析 | 第64-66页 |
·算例简单分析 | 第66-74页 |
·有偏控制图异常判断准则 | 第74-75页 |
·有偏控制图和放射性测量能力指数应用范围 | 第75页 |
·灰色系统理论算例分析 | 第75-77页 |
·一元回归法计算模型 | 第77-81页 |
·测量仪器与测量环境 | 第77-78页 |
·典型回归算例 | 第78-81页 |
结论与建议 | 第81-82页 |
致谢 | 第82-83页 |
参考文献 | 第83-84页 |