| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-22页 |
| ·研究背景 | 第12-15页 |
| ·半导体器件的低频噪声和可靠性 | 第12-13页 |
| ·辐射环境和MOS 器件的辐射效应 | 第13-14页 |
| ·MOS 器件抗辐照能力的噪声表征技术 | 第14页 |
| ·光电耦合器的低频噪声和可靠性 | 第14-15页 |
| ·国内外相关研究概况 | 第15-18页 |
| ·半导体器件的低频噪声理论 | 第15-16页 |
| ·半导体器件可靠性的噪声诊断技术 | 第16-18页 |
| ·本论文主要研究内容 | 第18-22页 |
| 第二章 半导体器件噪声基础 | 第22-34页 |
| ·引言 | 第22-23页 |
| ·白噪声 | 第23-25页 |
| ·热噪声 | 第23-24页 |
| ·散粒噪声 | 第24-25页 |
| ·G-R 噪声 | 第25-29页 |
| ·G-R 噪声的产生机理 | 第25-26页 |
| ·二极管的G-R 噪声 | 第26页 |
| ·双极晶体管的G-R 噪声 | 第26-27页 |
| ·MOSFET 中的RTS | 第27-29页 |
| ·1/f 噪声 | 第29-32页 |
| ·1/f 噪声产生机理 | 第29-30页 |
| ·二极管的1/f 噪声 | 第30页 |
| ·双极晶体管的1/f 噪声 | 第30-31页 |
| ·MOS 器件的1/f 噪声 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-34页 |
| 第三章 MOS 器件1/f 噪声的测试分析 | 第34-50页 |
| ·引言 | 第34-35页 |
| ·MOS 器件低频噪声的测试方法 | 第35-36页 |
| ·输出噪声的测量 | 第35页 |
| ·输入噪声的测量 | 第35-36页 |
| ·系统背景噪声的测量 | 第36页 |
| ·基于虚拟仪器的MOS 器件低频噪声测试系统 | 第36-39页 |
| ·测试系统的组成和工作原理 | 第36-37页 |
| ·测试系统的性能分析 | 第37-39页 |
| ·平稳1/f 噪声的测试结果及特性分析 | 第39-41页 |
| ·频率特性 | 第39-40页 |
| ·偏置特性 | 第40-41页 |
| ·尺寸特性 | 第41页 |
| ·非平稳1/f 噪声的测试结果及特性分析 | 第41-49页 |
| ·非平稳1/f 噪声测试方法 | 第41-43页 |
| ·MOS 器件的非平稳1/f 噪声模型 | 第43-47页 |
| ·结果和讨论 | 第47-49页 |
| ·小结 | 第49-50页 |
| 第四章 MOS 器件辐照特性的1/f 噪声表征方法 | 第50-98页 |
| ·引言 | 第50-51页 |
| ·MOS 器件总剂量辐照退化效应 | 第51-60页 |
| ·辐照诱发阈值电压漂移 | 第52-56页 |
| ·辐照诱发跨导退化 | 第56-58页 |
| ·辐照使1/f 噪声幅值增加 | 第58-59页 |
| ·辐照使1/f 噪声指数减小 | 第59-60页 |
| ·MOS 器件辐照退化与1/f 噪声的相关性:实验研究 | 第60-68页 |
| ·1/f 噪声与阈值电压漂移的关系 | 第60-62页 |
| ·1/f 噪声与跨导退化的关系 | 第62-63页 |
| ·机理分析 | 第63-68页 |
| ·MOS 器件辐照退化与1/f 噪声的相关性:理论分析 | 第68-82页 |
| ·MOSFET 1/f 噪声的统一模型 | 第68-74页 |
| ·阈值电压漂移-1/f 噪声相关性分析 | 第74-78页 |
| ·跨导退化-1/f 噪声相关性分析 | 第78-80页 |
| ·辐照感生氧化层电荷的1/f 噪声分析方法 | 第80-82页 |
| ·MOS 器件抗辐照能力的1/f 噪声筛选方法 | 第82-96页 |
| ·MOS 器件抗辐照能力的传统表征方法 | 第82-83页 |
| ·基于噪声参数的MOS 器件抗辐照能力表征模型 | 第83-85页 |
| ·表征参数的选择和相关性分析 | 第85-88页 |
| ·正态性分析和噪声频度分布 | 第88-90页 |
| ·回归分析和显著性检验 | 第90-91页 |
| ·筛选判据的确定 | 第91-92页 |
| ·结果和讨论 | 第92-96页 |
| ·结论 | 第96-98页 |
| 第五章 光电耦合器的噪声-可靠性诊断方法 | 第98-116页 |
| ·引言 | 第98-99页 |
| ·光电耦合器的低频噪声 | 第99-101页 |
| ·光电耦合器低频噪声的构成 | 第99-100页 |
| ·光电耦合器低频噪声的测试方法 | 第100-101页 |
| ·光电耦合器的1/f 噪声 | 第101-106页 |
| ·光耦1/f 噪声的产生机理 | 第101-102页 |
| ·光电耦合器的1/f 噪声模型 | 第102-104页 |
| ·实验结果和讨论 | 第104-106页 |
| ·光电耦合器的G-R 噪声 | 第106-110页 |
| ·光耦G-R 噪声的产生机理 | 第106-107页 |
| ·光电耦合器的G-R 噪声模型 | 第107-108页 |
| ·实验结果和讨论 | 第108-110页 |
| ·光电耦合器可靠性的噪声评估方法 | 第110-114页 |
| ·光电耦合器传统的可靠性评估方法 | 第110-111页 |
| ·光电耦合器可靠性的噪声评估方法 | 第111-114页 |
| ·小结 | 第114-116页 |
| 第六章 总结 | 第116-120页 |
| 致谢 | 第120-122页 |
| 参考文献 | 第122-133页 |
| 博士期间的学术论文及研究成果 | 第133-134页 |
