| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-4页 |
| 目录 | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-12页 |
| 1．1 X射线光电阴极发展史 | 第7页 |
| 1．2 X射线探测器的发展历史 | 第7-10页 |
| 1．3 本论文研究的内容 | 第10-12页 |
| 2 X射线的特征及其表征 | 第12-17页 |
| 2．1 X射线的特征及其性质 | 第12页 |
| 2．2 X射线与物质的相互作用 | 第12-15页 |
| 2．2．1 光电效应 | 第13页 |
| 2．2．2 汤姆逊效应 | 第13-14页 |
| 2．2．3 康普顿效应 | 第14-15页 |
| 2．2．4 电子偶效应 | 第15页 |
| 2．3 X射线透射和吸收特性 | 第15-16页 |
| 2．4 X射线的表征 | 第16-17页 |
| 3 X光阴极 | 第17-27页 |
| 3．1 X射线阴极的特点 | 第17页 |
| 3．2 X射线阴极 | 第17-18页 |
| 3．3 CsI／MCP反射式X光阴极 | 第18-22页 |
| 3．3．1 物理过程 | 第18-19页 |
| 3．3．2 量子效率 | 第19-20页 |
| 3．3．3 X光子吸收概率 | 第20页 |
| 3．3．4 逸出概率 | 第20-21页 |
| 3．3．5 阴极材料／MCP反射式X射线阴极的量子效率的理论表达式 | 第21-22页 |
| 3．4 阴极材料／CsI透射式X光阴极 | 第22-23页 |
| 3．4．1 物理过程 | 第22页 |
| 3．4．2 窗材料／阴极透射式X光阴极的量子效率 | 第22-23页 |
| 3．5 微通道极(MCP)的特性 | 第23-27页 |
| 3．5．1 MCP工作原理 | 第23-24页 |
| 3．5．2 MCP的特性 | 第24-25页 |
| 3．5．2．1 物理性能 | 第24页 |
| 3．5．2．2 增益特性 | 第24-25页 |
| 3．5．2．3 探测效率 | 第25页 |
| 3．5．3 X射线像增强器的MCP特点 | 第25-27页 |
| 4 X射线像增强器 | 第27-53页 |
| 4．1 X射线像增强器 | 第27-29页 |
| 4．1．1 它的主要用途 | 第27-28页 |
| 4．1．2 X射线像增强器涉及的性能指标包括 | 第28-29页 |
| 4．2 管型选择 | 第29页 |
| 4．3 亮度 | 第29-33页 |
| 4．3．1 量子效率测试方法 | 第29-31页 |
| 4．3．2 CsI／MCP反射式光阴极的制作实验 | 第31-33页 |
| 4．3．3 光纤面板荧光屏 | 第33页 |
| 4．4 分辨率 | 第33-44页 |
| 4．4．1 X射线像增强器的分辨率不高的原因 | 第33-34页 |
| 4．4．2 X光像增强器分辨率的计算 | 第34-36页 |
| 4．4．3 X光像增强器分辨率的计算结果分析 | 第36页 |
| 4．4．4 碘化铯光阴极的热稳定性试验 | 第36-40页 |
| 4．4．4．1 实验条件 | 第36-37页 |
| 4．4．4．2 实验结果和分析 | 第37-40页 |
| 4．4．4．3 小结 | 第40页 |
| 4．4．5 X光像增强器分辨率的修正计算 | 第40-42页 |
| 4．4．6 其它提高X光像增强器分辨率的方法 | 第42-44页 |
| 4．4．6．1 采用小焦点X射线源 | 第42-43页 |
| 4．4．6．2 X射线准直器 | 第43-44页 |
| 4．5 像增强器的噪声 | 第44-47页 |
| 4．5．1 X光像增强器的噪声产生因素 | 第44-45页 |
| 4．5．1．1 量子噪声 | 第44-45页 |
| 4．5．1．2 颗粒噪声 | 第45页 |
| 4．5．2 降低噪声的方法 | 第45-47页 |
| 4．5．2．1 合理的烘烤工艺 | 第45-46页 |
| 4．5．2．2 使用长余辉荧光粉 | 第46页 |
| 4．5．2．3 选用特殊的MCP | 第46-47页 |
| 4．5．2．4 计算机图像处理 | 第47页 |
| 4．6 寿命 | 第47-50页 |
| 4．6．1 寿命的定义 | 第47页 |
| 4．6．2 决定寿命的因素 | 第47-50页 |
| 4．6．3 提高管子寿命的方法 | 第50页 |
| 4．7 视场均匀性 | 第50-51页 |
| 4．8 小结 | 第51-53页 |
| 5 结论 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |