| 第一章 绪论 | 第1-16页 |
| 1．1 自动测试系统的概况 | 第10-11页 |
| 1．2 VXI总线系统的介绍 | 第11-14页 |
| 1．3 课题的来源及现状 | 第14-15页 |
| 1．4 本课题主要的研究内容 | 第15-16页 |
| 第二章 固态继电器电参数的分析 | 第16-21页 |
| 2．1 固态继电器的组成原理 | 第16页 |
| 2．2 固态继电器的电参数 | 第16-17页 |
| 2．3 固态继电器电参数的测试方法 | 第17-19页 |
| 2．3．1 参数的直接测试方法 | 第18页 |
| 2．3．2 参数的间接测试方法 | 第18-19页 |
| 2．4 测试系统的主要指标及技术要求 | 第19-21页 |
| 第三章 电参数自动测试系统的硬件设计 | 第21-36页 |
| 3．1 系统的概述 | 第21页 |
| 3．2 系统的组成及工作原理 | 第21-24页 |
| 3．2．1 系统的总体框图 | 第22-23页 |
| 3．2．2 系统的硬件组成 | 第23页 |
| 3．2．3 系统的工作原理 | 第23-24页 |
| 3．3 系统的外围接口电路的设计 | 第24-29页 |
| 3．3．1 VXI控制方式 | 第24-27页 |
| 3．3．2 VXI与DSP的接口电路 | 第27-29页 |
| 3．4 DSP在电参数测试系统中的应用 | 第29-33页 |
| 3．4．1 DSP介绍 | 第29-31页 |
| 3．4．2 基于C54X测试系统的研究 | 第31-33页 |
| 3．5 专用测试电路的设计与分析 | 第33-36页 |
| 第四章 电参数自动测试系统的软件设计 | 第36-58页 |
| 4．1 VXI系统中的通信过程 | 第36-41页 |
| 4．1．1 VXI系统中的分层通信规程 | 第36-37页 |
| 4．1．2 系统中器件的初始化及自检过程 | 第37-39页 |
| 4．1．3 系统中器件与器件之间的通信 | 第39-40页 |
| 4．1．4 消息基器件之间的字串行通信 | 第40-41页 |
| 4．2 PC与PLC的通信实现 | 第41-45页 |
| 4．2．1 PC与PLC之间的通信协议 | 第41-42页 |
| 4．2．2 串行通信的实现 | 第42-45页 |
| 4．3 PowerBuilder在测试过程中的应用 | 第45-48页 |
| 4．4 基于DSP技术的输出漏电流测量 | 第48-52页 |
| 4．5 测试系统的软件设计 | 第52-58页 |
| 4．5．1 系统主程序的设计 | 第52-54页 |
| 4．5．2 测试系统子程序的设计 | 第54-58页 |
| 第五章 总结 | 第58-65页 |
| 5．1 自动测试系统的干扰及抗干扰措施 | 第58-59页 |
| 5．2 自动测试系统中的误差及处理 | 第59-61页 |
| 5．3 VXI自动测试系统的总结和展望 | 第61-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |