一种便携式低频波形记录、再生装置的研制
致谢 | 第1-7页 |
中文摘要 | 第7-8页 |
英文摘要 | 第8-9页 |
前言 | 第9页 |
1. 非周期低频波形记录的方法 | 第9-12页 |
1.1 现行一般方法 | 第9-10页 |
1.2 本课题方法概述 | 第10-12页 |
1.2.1 主要特色 | 第10-11页 |
1.2.2 试验样机的主要性能指标 | 第11页 |
1.2.3 试验样机的考核内容 | 第11-12页 |
2. 系统的硬件组成 | 第12-26页 |
2.1 系统硬件的整体结构 | 第12-13页 |
2.1.1 框图说明 | 第12页 |
2.1.2 记录过程 | 第12-13页 |
2.1.3 回放过程 | 第13页 |
2.2 中央处理单元 | 第13页 |
2.3 系统的地址分配及存储器结构 | 第13-15页 |
2.3.1 地址分配 | 第14-15页 |
2.3.2 存储器结构及存储体切换方法 | 第15页 |
2.4 键盘及显示单元 | 第15-16页 |
2.4.1 8279芯片使用方法简介 | 第15-16页 |
2.4.2 8279芯片的连接 | 第16页 |
2.5 模拟数据处理单元 | 第16-24页 |
2.5.1 T6668内部结构简述 | 第17-18页 |
2.5.2 T6668操作原理及常用命令字 | 第18-20页 |
2.5.2.1 T6668的状态寄存器 | 第18-19页 |
2.5.2.2 T6668的CPU命令写入规则 | 第19页 |
2.5.2.3 T6668命令综述 | 第19-20页 |
2.5.3 T6668的电路连接 | 第20-22页 |
2.5.4 T6668在本系统中的应用特色 | 第22-24页 |
2.5.4.1 T6668应用SRAM为存储体 | 第22-23页 |
2.5.4.2 T6668内部放大器的应用 | 第23-24页 |
2.6 准RS232串口组成 | 第24页 |
2.7 SRAM掉电保护方法 | 第24-26页 |
2.7.1 选用SRAM的原因 | 第24-25页 |
2.7.2 掉电保护电路 | 第25-26页 |
3. 系统的软件构成 | 第26-31页 |
3.1 程序的整体结构 | 第26-27页 |
3.2 波形记录流程 | 第27-28页 |
3.3 波形再生流程 | 第28-29页 |
3.4 瞬态波形的模拟通用示波器观察方法 | 第29-31页 |
3.4.1 模拟示波器波形显示原理 | 第29页 |
3.4.2 软件流程 | 第29-30页 |
3.4.3 使用模拟通用示波器观察瞬态波形 | 第30-31页 |
4. 系统特性试验 | 第31-39页 |
4.1 幅频特性试验 | 第31-34页 |
4.1.1 试验目的 | 第32页 |
4.1.2 经典方法幅频特性试验 | 第32-34页 |
4.1.2.1 试验条件 | 第32页 |
4.1.2.2 试验方法与步骤 | 第32-33页 |
4.1.2.3 试验数据及结果 | 第33-34页 |
4.2 频谱分析试验 | 第34-39页 |
4.2.1 试验目的 | 第34页 |
4.2.2 频谱分析试验的条件 | 第34页 |
4.2.3 试验情况概述 | 第34-35页 |
4.2.4 数据处理及试验结果 | 第35-39页 |
4.2.4.1 频谱分析的基本概念 | 第35-36页 |
4.2.4.2 试验数据图示 | 第36-39页 |
4.3 系统试验结论 | 第39页 |
5. 应用试验 | 第39-41页 |
5.1 模拟示波器显示瞬态波形试验 | 第39页 |
5.2 座椅振动测量试验 | 第39-41页 |
5.2.1 试验描述及试验条件 | 第39-40页 |
5.2.2 数据处理及结果 | 第40-41页 |
5.2.3 试验结论 | 第41页 |
6. 小结 | 第41-42页 |
参考文献 | 第42-43页 |
附录一 使用说明书 | 第43-45页 |
附录二 Matlab处理源程序 | 第45-47页 |
附录三 电路原理图 | 第47页 |