通用型安检设备物质重叠识别及R-L物质分类算法研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-16页 |
| ·目的和意义 | 第11-12页 |
| ·安检仪的开发目的 | 第11页 |
| ·安检仪的社会经济意义 | 第11-12页 |
| ·检测技术综述 | 第12-14页 |
| ·国内外安检设备研究现状 | 第14-15页 |
| ·主要研究工作 | 第15-16页 |
| 第2章 X射线探测技术概述 | 第16-32页 |
| ·X射线的物理特性 | 第16-22页 |
| ·X射线发生器 | 第16-17页 |
| ·X射线连续谱与特征谱 | 第17-19页 |
| ·X射线与物质的相互作用 | 第19-22页 |
| ·X射线探测器 | 第22-23页 |
| ·X射线探测技术 | 第23-25页 |
| ·X射线图像系统 | 第25-29页 |
| ·传统X射线图像系统 | 第25页 |
| ·双能量X射线图像系统 | 第25-27页 |
| ·双能量+散射X射线图像系统 | 第27-29页 |
| ·多视角系统 | 第29页 |
| ·探测信号 | 第29-31页 |
| ·透射信号 | 第29-30页 |
| ·背散射信号 | 第30-31页 |
| ·前散射信号 | 第31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第3章 通用型X射线探测系统 | 第32-39页 |
| ·X射线探测系统概述 | 第32-33页 |
| ·X射线双能量透射+散射探测系统 | 第33-37页 |
| ·改进系统概述 | 第33-36页 |
| ·改进系统原理 | 第36-37页 |
| ·图像灰度级与信号强度的关系 | 第37-38页 |
| ·系统噪声 | 第38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第4章 重叠物质真实灰度级的确定 | 第39-56页 |
| ·概述 | 第39页 |
| ·目的和方法 | 第39-40页 |
| ·图像处理系统 | 第40-42页 |
| ·确定物质真实灰度级 | 第42-55页 |
| ·消除重叠影响的基本方法 | 第42-44页 |
| ·透射重叠模型 | 第44-49页 |
| ·前散射重叠模型 | 第49-53页 |
| ·背散射重叠模型 | 第53-55页 |
| ·小结 | 第55-56页 |
| 第5章 基于R-L特征空间曲线的物质分类算法研究 | 第56-88页 |
| ·R值的提取 | 第56-57页 |
| ·克服厚度影响的数字化优化方法 | 第57-60页 |
| ·透射信号的数字化表达 | 第57-60页 |
| ·算法 | 第60页 |
| ·L值的提取 | 第60-65页 |
| ·前散射和背散射 | 第60-62页 |
| ·依赖于距离的散射 | 第62-65页 |
| ·散射图像灰度值解决方案 | 第65-70页 |
| ·建立数学模型 | 第65页 |
| ·使用LMS算法确定系数w | 第65-68页 |
| ·使用LS算法确定系数w | 第68-70页 |
| ·爆炸物的分类研究 | 第70-72页 |
| ·有效原子序数和密度 | 第70-71页 |
| ·改进模型的分类特征空间 | 第71-72页 |
| ·综合实验 | 第72-78页 |
| ·物质的确定 | 第72页 |
| ·图像数据 | 第72-78页 |
| ·分类方法与结果 | 第78-86页 |
| ·基于最小错误率的贝叶斯决策理论 | 第78-82页 |
| ·判别函数、决策面和分类器设计 | 第82-83页 |
| ·改进模型的分类规则 | 第83页 |
| ·分类结果 | 第83-86页 |
| ·小结 | 第86-88页 |
| 第6章 结论与展望 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-93页 |
| 致谢 | 第93页 |
