中国散裂中子源质子加速器束流相位及能量测试系统的设计与实现
| 摘要 | 第1-10页 |
| Abstract | 第10-12页 |
| 第一章 引言 | 第12-29页 |
| ·加速器介绍 | 第13-17页 |
| ·高能粒子加速器在科学研究中的意义 | 第13-14页 |
| ·加速器束流能量的提高与进展 | 第14-16页 |
| ·高能加速器的发展前沿 | 第16-17页 |
| ·散裂中子源与ADS | 第17-26页 |
| ·中子散射与散裂中子源 | 第17-20页 |
| ·中国散裂中子源 | 第20-24页 |
| ·加速器驱动次临界洁净核能系统(ADS) | 第24-26页 |
| 参考文献 | 第26-29页 |
| 第二章 加速器束流测试 | 第29-48页 |
| ·束流测试的主要内容 | 第30-31页 |
| ·基于束流相位及能量测试的束流调控基本原理 | 第31-32页 |
| ·束流相位测试的基本方法 | 第32-47页 |
| ·调制与解调 | 第33-36页 |
| ·正交解调与直接中频正交采样 | 第36-47页 |
| 参考文献 | 第47-48页 |
| 第三章 相位测试系统的调研 | 第48-61页 |
| ·BEPCII直线加速器相控系统 | 第49-50页 |
| ·LEDA束流相位测试系统 | 第50-54页 |
| ·下变频模块 | 第51-52页 |
| ·1Q处理模块 | 第52-53页 |
| ·系统的标定与修正 | 第53页 |
| ·系统性能 | 第53-54页 |
| ·SNS LLRF控制系统中的相位测试系统 | 第54-57页 |
| ·Libera束流测试系统 | 第57-59页 |
| ·系统方案比较 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-61页 |
| 第四章 系统设计方案 | 第61-116页 |
| ·系统总体设计方案 | 第62页 |
| ·输入信号特点与系统期望指标 | 第62-65页 |
| ·输入信号的频率特性 | 第63页 |
| ·输入信号幅度特性 | 第63-65页 |
| ·系统期望指标 | 第65页 |
| ·系统基本结构 | 第65-66页 |
| ·模拟部分的设计 | 第66-106页 |
| ·模拟前端电路的设计 | 第67-83页 |
| ·模拟后端电路的设计 | 第83-106页 |
| ·数字部分的设计 | 第106-112页 |
| ·数字部分的总体结构 | 第106-107页 |
| ·1Q序列的抽取与平均 | 第107-108页 |
| ·相位计算算法 | 第108-110页 |
| ·幅度计算算法 | 第110-111页 |
| ·自动增益控制算法 | 第111-112页 |
| ·时钟系统的设计 | 第112-113页 |
| ·软件系统的设计 | 第113-114页 |
| ·结语 | 第114-115页 |
| 参考文献 | 第115-116页 |
| 第五章 系统的实现 | 第116-153页 |
| ·整个系统的硬件架构 | 第117页 |
| ·模拟前端(AFE)电路的设计 | 第117-130页 |
| ·基频信号抽取与自动增益控制系统的电路设计 | 第118-125页 |
| ·下变频电路的设计 | 第125-126页 |
| ·差分驱动电路的设计 | 第126-128页 |
| ·模拟部分时钟系统的设计与LO信号的产生 | 第128-130页 |
| ·数字处理部分(DPB)电路的设计 | 第130-147页 |
| ·硬件电路设计 | 第130-134页 |
| ·数字信号处理的FPGA实现 | 第134-147页 |
| ·信号完整性的考虑与PCB布线 | 第147-148页 |
| ·软件系统的设计 | 第148-150页 |
| 参考文献 | 第150-153页 |
| 第六章 系统性能测试与分析 | 第153-200页 |
| ·测试参数和目的 | 第154页 |
| ·基本测试方法 | 第154-159页 |
| ·系统测试的主要方法 | 第154-155页 |
| ·测试平台的构建要素 | 第155-156页 |
| ·实际测试平台的构建 | 第156-157页 |
| ·测试使用的主要仪器的基本性能指标 | 第157-159页 |
| ·模拟前端主要功能模块的性能测试 | 第159-169页 |
| ·RF放大器的性能测试 | 第159-160页 |
| ·RF衰减器HMC472的性能测试 | 第160-162页 |
| ·下变频电路的性能测试 | 第162-164页 |
| ·过压保护电路性能测试 | 第164-165页 |
| ·AGC的性能测试 | 第165-169页 |
| ·系统最终测试结果 | 第169-199页 |
| ·AGC链路测试结果 | 第169-171页 |
| ·Down-Convertor性能测试结果 | 第171-176页 |
| ·各通道串扰测试 | 第176-177页 |
| ·ADC测试结果 | 第177-183页 |
| ·系统联合测试 | 第183-198页 |
| ·系统性能的总体指标 | 第198-199页 |
| 参考文献 | 第199-200页 |
| 第七章 总结和展望 | 第200-205页 |
| ·总结 | 第201-202页 |
| ·展望 | 第202-203页 |
| 参考文献 | 第203-205页 |
| 附录1 硬件电路模块照片 | 第205-208页 |
| 附录2 硬件系统主要命令及控制寄存器 | 第208-209页 |
| 攻读学位期间发表文章 | 第209-211页 |
| 致谢 | 第211页 |
